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そうさとうかがたでんしけんびきょうの英語
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ライフサイエンス辞書での「そうさとうかがたでんしけんびきょう」の英訳 |
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「そうさとうかがたでんしけんびきょう」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 20件
走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
透過型および走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置例文帳に追加
OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び3次元断層像観察方法例文帳に追加
CONFOCAL SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL TOMOGRAPHIC OBSERVATION METHOD - 特許庁
走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。例文帳に追加
To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed. - 特許庁
元素マッピング装置,走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法例文帳に追加
ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD - 特許庁
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「そうさとうかがたでんしけんびきょう」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 20件
元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法例文帳に追加
ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD - 特許庁
元素マッピング装置、走査透過型電子顕微鏡及び元素マッピング方法例文帳に追加
ELEMENT-MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELEMENT-MAPPING METHOD - 特許庁
透過型電子顕微鏡(TEM)、走査透過型電子顕微鏡(STEM)、走査型電子顕微鏡(SEM)、集束イオン・ビーム(FIB)システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。例文帳に追加
To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system. - 特許庁
走査透過型電子顕微鏡装置で分析対象物(5)を透過した電子線は元素マッピング装置に入射する。例文帳に追加
An electron beam transmitting through an object 5 to be analyzed in this scanning transmission electron microscope enters the element mapping device. - 特許庁
走査透過型電子顕微鏡を用いて簡易に歪の分布解析を行う結晶材料の格子歪評価方法、評価システムを提供する。例文帳に追加
To provide a lattice strain evaluation method of a crystal material for easily performing strain distribution analysis by using a scanning transmission electron microscope, and an evaluation system. - 特許庁
高い倍率で安定して再現性の良い鮮明な走査透過型電子顕微鏡像の観察を可能にする。例文帳に追加
To provide a scanning transmission type electron microscope capable of stably observing a clear image which is reproducible at high magnification. - 特許庁
共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び3次元断層像観察方法に関し、薄層状試料における異なった深さにおける原子配列を一画像で観察可能にする。例文帳に追加
To provide a confocal scanning transmission type electron microscope device and a three-dimensional tomographic observation method such that atom arrays of a thin-layer sample at different depths are observed through one image. - 特許庁
電界放射型電子銃と、電界放射型電子銃から放射された電子線を試料に収束する収束手段と、試料を照射する収束電子線を走査する偏向手段と、試料像を投影する投影手段と、試料厚さ測定手段とを備える走査透過型電子顕微鏡観察装置を用いて観察を行う。例文帳に追加
The observation is performed by a scanning transmission electron microscope observation equipment equipped with a field emission electron gun, a convergence means to converge an electron ray emitted from the field emission electron gun onto a sample, a deflecting means to scan a convergence electron ray irradiating the sample, a projecting means to project a sample image, and a measuring means for a sample thickness. - 特許庁
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