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そうほせいしけんの英語
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「そうほせいしけん」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 368件
電子顕微鏡の視野補正装置例文帳に追加
APPARATUS FOR SIGHT COMPENSATION OF ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
試験機器用軸補正装置例文帳に追加
半導体試験装置のタイミング補正方法及び装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTION OF TIMING OF SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS - 特許庁
外部擾乱補正装置を有した走査電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTURBANCE CORRECTING DEVICE - 特許庁
走査形電子顕微鏡等の視野移動補正装置例文帳に追加
VISUAL FIELD MOVEMENT CORRECTING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
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「そうほせいしけん」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 368件
走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置例文帳に追加
ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法例文帳に追加
ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査電子顕微鏡の歪み補正装置例文帳に追加
DISTORTION CORRECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DRIFT CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
波形補正回路およびそれを用いた半導体試験装置例文帳に追加
WAVEFORM CORRECTION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE USING THE SAME - 特許庁
半導体試験装置における温度補正回路例文帳に追加
TEMPERATURE CORRECTING CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁
半導体試験装置のタイミング補正方法例文帳に追加
METHOD OF CORRECTING TIMING OF SEMICONDUCTOR TESTER - 特許庁
相補性試験方法及びそれに用いる金粒子例文帳に追加
COMPLEMENTARITY TESTING METHOD AND GOLD PARTICLE FOR USE IN THE METHOD - 特許庁
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