スペシフィックの英語

よりセクタースペシフィックで簡易な方法論が構築されることが望ましい。例文帳に追加

It is desirable that more sector-specific and concise methodologies are to be established.発音を聞く  - 経済産業省

さらに、少なくとも一つの単鎖ＭＨＣクラスII分子を含んでいるポリスペシフィックなＭＨＣ複合体。例文帳に追加

Further provided are polyspecific MHC complexes comprising at least one single chain MHC class II molecule. - 特許庁

ＰＨＳ端末１０４が、自分のページンググループのページチャネルのみを受信する状態で、ページ・チャネルから置き換えられたユーザ・スペシフィック・コントロール・チャネルに入れられた文字情報を受信する手段を備え、ＰＨＳ基地局１０３が、前記ページ・チャネルから置き換えられた前記ユーザ・スペシフィック・コントロール・チャネルに前記文字情報を入れて送信する手段を備える。例文帳に追加

The PHS terminal 4 is provided with a means that receives teletext information set to a user specific control channel replaced from a page channel in a state of receiving only the page channel of its own paging group, and a PHS base station 103 is provided with a means that sets the teletext information to the user specific control channel replaced from the page channel and transmits the resulting channel. - 特許庁

使い勝手を改善するその具体的なポイントにつきましては、現在まだ検討中でございますので、この点についてのスペシフィック（個別具体的）なお答えは、この時点では差し控えさせていただきたいと思います例文帳に追加

I would like to refrain from giving you a specific answer at this time, as we are still considering specifically how to improve the utility発音を聞く  - 金融庁

各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスのメモリに固有のアルゴリズミックパターンを発生するためのアルゴリズミックパターン発生（ＡＬＰＧ）モジュールを搭載し、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a low-cost semiconductor test system which is application- specific where various types of test devices are made into modules which are coupled in a plurality of numbers while an algorithmic pattern generating(ALPG) module is mounted for generating an algorithmic pattern specific to the memory of a device which is to be tested. - 特許庁

半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。例文帳に追加

To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture. - 特許庁