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走査電子顕微鏡検査の英語
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英訳・英語 scanning electron microscope examinations
「走査電子顕微鏡検査」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法例文帳に追加
INSPECTING DEVICE AND METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像生成方法例文帳に追加
VISUAL INSPECTION DEVICE WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE FORMING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡を用いたパターンの複合検査方法例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPOUND INSPECTION METHOD OF PATTERN BY USING IT - 特許庁
走査型電子顕微鏡及び半導体検査システム例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SEMICONDUCTOR INSPECTING SYSTEM - 特許庁
走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置例文帳に追加
INSPECTION METHOD AND DEVICE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
試料の検査,測定方法、及び走査電子顕微鏡例文帳に追加
METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査型電子顕微鏡を用いた検査装置例文帳に追加
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「走査電子顕微鏡検査」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
走査型電子顕微鏡の寸法検査精度及び再現性を向上させる。例文帳に追加
To improve dimensional inspection accuracy and reproducibility of a scanning electron microscope. - 特許庁
荷電粒子線装置、走査電子顕微鏡、および試料検査方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE INSPECTION METHOD - 特許庁
走査電子顕微鏡を用いた試料検査における電荷トラップの改善例文帳に追加
IMPROVEMENT OF CHARGE TRAP IN SAMPE INSPECTION USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
欠陥抽出走査電子顕微鏡検査装置及びその抽出方法例文帳に追加
DEFECT EXTRACTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION SYSTEM, AND EXTRACTION METHOD THEREOF - 特許庁
走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法例文帳に追加
APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
当該マイクロリアクターは、走査型透過電子顕微鏡での検査、250-300eV範囲での軟X線での検査等のため、光学顕微鏡と併用されて良い。例文帳に追加
The microreactor may be combined with an optical microscope in order to inspect by a scanning transmission type electron microscope and inspect by a soft X-ray in the range of 250-300 eV. - 特許庁
湿潤サンプルの電子顕微鏡検査を可能にすることになる、走査型電子顕微鏡と共に使用するように適合されたチャンバを提供する。例文帳に追加
To provide a chamber suitable for use with a scanning electron microscope useful for allowing wet samples to be viewed under an electron microscope. - 特許庁
本発明に係る基板検査方法は、走査型電子顕微鏡装置を用いた基板検査方法である。例文帳に追加
This substrate inspecting method uses a scanning electron microscope. - 特許庁
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