テストパターン発生~の英語

テスト補助装置は、複数のテスト項目に対応した複数のテストパターンデータを記憶するテストパターンメモリと、複数のテストパターンデータの中から選択されたテストパターンデータを書き込テストパターン信号発生器を有する。例文帳に追加

The test aid device comprises a test pattern memory memorizing a plurality of test pattern data corresponding to a plurality of test items, and a test pattern signal generator which writes test pattern data selected from among a plurality of the test pattern data. - 特許庁

テストパターン発生部１００により発生された、テストパターンの濃度データは、印字ヘッドに出力されて記録紙に印字される。例文帳に追加

Density data of a test pattern formed by a test pattern formation part 100 are outputted from a print head and recorded on the recording paper. - 特許庁

相変化記録ディスク１にテストパターン発生回路１３によって発生されたテストパターンが記録される。例文帳に追加

A test pattern generated by a test pattern generating circuit 13 is recorded on a phase transition recording disk 1. - 特許庁

半導体集積回路のテスト方法及びテストパターン発生回路例文帳に追加

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT - 特許庁

半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST PATTERN DATA GENERATING METHOD FOR THE DEVICE - 特許庁

信号発生装置、テストパターン及び映像機器の評価方法例文帳に追加

SIGNAL GENERATOR, TEST PATTERN, AND EVALUATION METHOD OF VIDEO APPARATUS - 特許庁

テストパターン、信号発生装置及び映像機器の評価方法例文帳に追加

TEST PATTERN, SIGNAL GENERATOR AND METHOD OF EVALUATING VIDEO DEVICE - 特許庁

テストパターン発生器における最適初期値の決定方法および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE OPTIMUM INITIAL VALUE IN TEST PATTERN GENERATOR - 特許庁