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入射電子の英語
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英訳・英語 incident electron
「入射電子」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 591件
電子ビーム入射装置例文帳に追加
ELECTRON BEAM INCIDENT DEVICE - 特許庁
入射電子ビームが電子源から形成され、入射ビームは電子反射板のアレイに導かれる。例文帳に追加
An input electron beam is formed from an electron source, and the input beam is introduced into the array of electron reflectors. - 特許庁
入射部１１に入射された光は電子８に変換される。例文帳に追加
The light which enters the incidence part 11 is converted into electrons 8. - 特許庁
入射電子が可変層に到達するよう適切な入射電子加速電圧を選択する。例文帳に追加
A proper incident electron acceleration voltage is selected so that incident electrons reach the variable layer. - 特許庁
電子線入射角度測定装置、電子線入射角度分布測定装置、電子線露光装置、電子線入射角度測定方法及び電子線入射角度分布測定方法例文帳に追加
ELECTRON BEAM INCIDENT ANGLE MEASURING APPARATUS, ELECTRON BEAM INCIDENT ANGLE DISTRIBUTION MEASURING APPARATUS, ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS, ELECTRON BEAM INCIDENT ANGLE MEASURING METHOD AND ELECTRON BEAM INCIDENT ANGLE DISTRIBUTION MEASURING METHOD - 特許庁
電子ビームとレーザ光の所定の衝突点５に入射する電子ビームの入射角度αを変化させるビーム入射角制御装置３２を備え、衝突点に入射する電子ビームの入射角度αを変化させる。例文帳に追加
The device is equipped with a beam incident angle control device 32 to make incident angle α of incident electron beam change, and the incident angle α of incident electron beam which is made incident into a collision point is changed. - 特許庁
電子線装置および電子ビームの入射角度較正方法例文帳に追加
ELECTRON BEAM DEVICE AND CALIBRATION METHOD OF INCIDENT ANGLE OF ELECTRON BEAM - 特許庁
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Weblio例文辞書での「入射電子」に類似した例文 |
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入射電子
a microscope which uses electron beams
an electron with a negative charge
the emission of electrons from very hot substances
the electrode in a transistor where electrons originate
a cathode that emits electrons when illuminated
「入射電子」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 591件
試料から出射する電子は、対物レンズに入射する。例文帳に追加
Electrons exiting from the specimen enter the objective lens.発音を聞く - 科学技術論文動詞集
試料が入射電子ビームを回折させると仮定する。例文帳に追加
Suppose the specimen diffracts the incident electron beam.発音を聞く - 科学技術論文動詞集
冷陰極電子銃の自動入射軸合わせ方法例文帳に追加
AUTOMATIC INCIDENT AXIS ALIGNING METHOD FOR COLD CATHODE ELECTRON GUN - 特許庁
電子ビーム源が、マイクロトロンの周回電子軌道に電子ビームを入射させる。例文帳に追加
An electron beam source forces the electron beam enter into the revolving electron orbit of the microtron. - 特許庁
電子線を入射角調整用アパーチャ１に照射すると、入射角調整用アパーチャ１にほぼ垂直に入射する電子ビーム６は入射角調整用アパーチャ１を通過できる。例文帳に追加
When the aperture for incident angle adjustment 1 is irradiated with an electron beam, an electron beam 6 which is vertically made incident on the aperture for incident angle adjustment 1 can pass through the aperture for incident angle adjustment 1. - 特許庁
各検出部２Ｘ、２Ｙは、入射した光を光電変換して増幅電子を電子収集電極に入射する。例文帳に追加
The detection parts 2X and 2Y photoelectrically convert the incident light to enter amplified electrons into the collection electrodes. - 特許庁
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