反射電子像の英語

反射結像型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置例文帳に追加

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT - 特許庁

反射防止性フィルム及びそれを用いた電子画像表示装置例文帳に追加

ANTIREFLECTION FILM, AND ELECTRONIC IMAGE DISPLAY USING THE SAME - 特許庁

反射結像型電子顕微鏡、及びそれを用いた欠陥検査装置例文帳に追加

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE USING IT - 特許庁

電子画像の再帰性反射プリントシート及びプリント方法例文帳に追加

RECURSIVE REFLECTION PRINT SHEET OF ELECTRONIC IMAGE AND PRINTING METHOD THEREFOR - 特許庁

反射防止性フィルム及びそれを用いた電子画像表示装置例文帳に追加

ANTI-REFLECTION FILM AND ELECTRONIC IMAGE DISPLAY DEVICE USING THE SAME - 特許庁

透明導電性減反射材、その製造方法及び電子画像表示装置例文帳に追加

TRANSPARENT CONDUCTIVE ANTI-REFLECTION MATERIAL, ITS MANUFACTURING METHOD AND ELECTRONIC IMAGE DISPLAY DEVICE - 特許庁

反射電子像を測定した条件と同等の条件で膜厚既知の試料からの反射電子信号強度を測定して基準強度とし、反射電子像の反射電子強度と基準強度との強度比の分布を画像表示する。例文帳に追加

The intensity of the reflected electron signal from a sample with a known membrane thickness under the condition equal to the measuring condition of the reflected electron image is measured to be set to reference intensity and the distribution of the intensity ratio of the reflected election intensity of the reflected electron image and the reference intensity is displayed as an image. - 特許庁

なお、２つ以上の異なる空間的な位置で反射電子を検出して生成された少なくとも２つ以上の反射電子像から、反射電子像に含まれたパターンの輪郭データを抽出するようにしてもよい。例文帳に追加

Further, the profile data of pattern included in the reflective electron image can be extracted from at least not less than two reflective electron images produced by detecting reflective electrons at not less than two different spatial positions. - 特許庁