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工程解析の英語
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英訳・英語 process analysis
「工程解析」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 269件
工程解析装置、工程解析方法および工程解析プログラム例文帳に追加
PROCESS ANALYSIS APPARATUS, PROCESS ANALYSIS METHOD, AND PROCESS ANALYSIS PROGRAM - 特許庁
工程解析システム、工程解析プログラムおよび工程解析方法例文帳に追加
PROCESS ANALYSIS SYSTEM, PROCESS ANALYSIS PROGRAM, AND PROCESS ANALYSIS METHOD - 特許庁
造管工程の数値解析法例文帳に追加
工程解析方法及びプログラム例文帳に追加
METHOD OF PROCESS ANALYSIS AND PROGRAM - 特許庁
全工程を電源ノイズ解析工程S1と伝送信号波形解析工程S2に分ける。例文帳に追加
The entire process is divided into a power source noise analysis process S1 and a transmission signal waveform analyzing process S2. - 特許庁
欠陥解析システム、記録媒体、欠陥解析方法、及び工程管理方法例文帳に追加
DEFECT ANALYSIS SYSTEM, RECORDING MEDIUM, DEFECT ANALYZING METHOD AND PROCESS CONTROLLING METHOD - 特許庁
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工程解析
「工程解析」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 269件
振動の計測工程と、その計測結果による解析用のモデル化工程、および、その解析用モデルに基づく音響解析工程を簡易に連結させて、音響解析対象物に対する音響解析を自動化する。例文帳に追加
To automatic an acoustic analysis for a target to be analyzed by easily connecting the measurement process of vibration, a modeling process for analysis according to the measurement result, and an acoustic analytic process based on the analytic model. - 特許庁
半導体製造工程のデータ解析システム例文帳に追加
DATA ANALYSIS SYSTEM OF SEMICONDUCTOR MANUFACTURING PROCESS - 特許庁
半導体製品製造工程における欠陥解析方法例文帳に追加
DEFECT ANALYZING METHOD IN SEMICONDUCTOR PRODUCT MANUFACTURING PROCESS - 特許庁
マクロ解析工程とミクロ解析工程とを有するセル構造体の構造解析法の提供による。例文帳に追加
This structure analysis method for the cell structure is provided with a macro analysis process and a micro analysis process. - 特許庁
顧客などにより発見された塗装欠陥を迅速に解析し、解析結果を塗装工程や検査工程,輸送工程などに迅速に反映する。例文帳に追加
To quickly analyze coating defects found by customers or the like and quickly feed back the analyzed result on a coating process, an inspection process, a transport process and the like. - 特許庁
判定工程と解析工程とは、電子後方散乱回折像法を用いて行うことができる。例文帳に追加
The determination process and the analysis process can be performed by using an electronic back scattering diffraction image method. - 特許庁
さらに,欠陥位置特定工程120では,第1の工程に相当する第1のOBIC工程122と第2の工程に相当する第2のOBIC工程124と第3の工程に相当する解析工程126とが行われる。例文帳に追加
Furthermore, in the defect position specifying process 120, a first optical induced current (OBIC) process 122 corresponding to a first process, a second OBIC process 124 corresponding to a second process and an analytic process 126 corresponding to a third process are performed. - 特許庁
流線収束の外乱となる解析条件の一部が削除されたタンデム工程の有限要素解析、および削除された流線収束の外乱となる解析条件が付加された単スタンド工程の有限要素解析からなることを特徴とするタンデム工程の解析方法。例文帳に追加
The analytical method of a tandem process is composed of a finite element analysis of the tandem process where a part of analytical conditions to be a disturbance of a flowline bundle is eliminated and a finite element analysis of a single stand process where the analytical condition to be the disturbance of the eliminated flowline bundle is imparted. - 特許庁
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