干渉分光法の英語

従来よりも分光帯域の広いファブリペロー干渉計及びその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a Fabry-Perot interferometer having a wider spectral band than those of conventional Fabry-Perot interferometers and to provide a manufacturing method thereof. - 特許庁

複雑な表面構造を有する対象物の表面トポグラフィおよび／または他の特性を、走査干渉分光法を用いて測定する。例文帳に追加

To measure surface topography and/or other characteristics of an object having a complex surface structure using scanning interferometry. - 特許庁

従来よりも分光帯域の広いファブリペロー干渉計及びその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a Fabry-Perot interferometer wherein a spectroscopy band is wider than conventionally, and to provide a manufacturing method for such a Fabry-Perot interferometer. - 特許庁

複雑な表面構造を有する対象物の表面トポグラフィおよび／または他の特性を、走査干渉分光法を用いて測定する。例文帳に追加

To measure surface topography and/or other characteristics of an object having a complex surface structure, using a scanning interferometry. - 特許庁

多層ディスク等の多層構造体の被測定物について分光干渉法で正確な膜厚測定ができるようにする。例文帳に追加

To enable an accurate film thickness measurement to be carried out by using a spectroscopic interference method for an object to be measured of a multilayer structure such as a multilayer disc or the like. - 特許庁

外挿法によって干渉強度測定点に対応する移動鏡１５の位置Ｘｅを算出するので、移動鏡１５の変位量を大きくして、高分解能の分光器１を実現する場合でも、干渉性の高い基準光源（例えば大型のＨｅ−Ｎｅレーザ）を用いることなく、干渉強度測定点に対応する移動鏡１５の位置Ｘｅを求めることができる。例文帳に追加

Since the position Xe of the moving mirror 15 corresponding to the interference strength measurement point is calculated by the extrapolation method, therefore, the position Xe of the moving mirror 15 corresponding to the interference strength measurement point is found without use of the coherent reference light source (e.g. a large He-Ne laser) even if the displacement of the moving mirror 15 is increased to achieve the high-resolution spectroscope 1. - 特許庁

イオン源からイオン輸送器、四重極衝突セル、分析質量分光計にイオンを輸送することによる同重干渉を、除去しなければ反応して同重干渉を形成しやすい中間イオンを除去する通過帯域をもって衝突セルを動作させて低減する方法。例文帳に追加

A method is provided for reducing isobaric interferences caused by transmitting ions from an ion source through an ion transmission device and a quadrupole collision cell into an analyzing mass spectrometer, in which the collision cell is operated with a pass band for rejecting intermediate ions which would otherwise tend to react to form isobaric interferences. - 特許庁

種々のバックグラウンドマトリックスを有し、実質的な成分干渉をおそらく有するサンプル中に存在する分析物濃度を決定する方法および分光光度装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a method and a spectrophotometric device for determining an analyte present in a sample having various background matrixes and possibly having substantial component interference. - 特許庁