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暗視野鏡検法の英語
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英訳・英語 dark‐field microscope
「暗視野鏡検法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 4件
環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡例文帳に追加
INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
例えば、偏光観察から暗視野観察へ観察方法を切り替える場合、検鏡ブロック2を右方向へ移動させ、当接板8によってフィルタブロック5を検鏡ブロック2とともに右方向へ移動させ、暗視野観察用ミラーG2が光路L上に配置する。例文帳に追加
For instance, when the observation method is changed over from polarization observation to darkfield observation, the specular block 2 is moved to the right and the filter block 5 is moved to the right together with the specular block 2 by a contact plate 8, to arrange the darkfield observation mirror G2 on the optical path L. - 特許庁
本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。例文帳に追加
To easily carry out incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector regarding an incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector and a scanning transmission electron microscope. - 特許庁
簡単な機構で、落射暗視野検鏡において鮮明な試料像を得ることができるとともに、観察方法を切り換える際の操作が簡易な顕微鏡を得る。例文帳に追加
To obtain a microscope by which a distinct sample image can be obtained in a vertical dark-field microscope with a simple mechanism and whose operation in the case of switching the observing method is easy. - 特許庁
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