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欠陥中心の英語
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英訳・英語 defect center
「欠陥中心」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 100件
鋼の連続鋳造鋳片の中心欠陥低減方法例文帳に追加
CENTER DEFECT REDUCING METHOD OF CONTINUOUSLY CAST STEEL SLAB - 特許庁
中心欠陥の発生しない圧延パス方法例文帳に追加
ROLLING PASS METHOD WITHOUT OCCURRENCE OF CENTER DEFECT - 特許庁
オーステナイト系ステンレス鋼材の中心欠陥の発生を防止する。例文帳に追加
To prevent occurrence of center defects of an austenitic stainless steel. - 特許庁
鋳孔の封止後の溶着金属部に、凝固割れや再熱割れの欠陥と溶接金属中心部のひけ巣による欠陥の発生を低減する。例文帳に追加
To decrease the occurrence of defects in a welded metal part after sealing a casting hole due to a solidification crack, a reheat crack, or a cavity at the central part of welded metal. - 特許庁
結晶中心部が無欠陥領域、酸化誘起積層欠陥発生領域又は赤外散乱欠陥発生領域となる条件で結晶育成を行う。例文帳に追加
Crystal growth is carried out under such a condition that the center part of the crystal becomes a region free from defects, a region where stacking faults caused by oxidation are formed or a region where infrared scattering defects are formed. - 特許庁
結晶中心部が無欠陥領域、酸化誘起積層欠陥発生領域又は赤外散乱欠陥発生領域となる条件で結晶育成を行う。例文帳に追加
Crystal growth is conducted under a condition that the central part of the crystal becomes a defect-free zone, an oxidation inducement stacking defect-formed zone or an infrared scattering defect-formed zone. - 特許庁
欠陥に基づく反射波信号を検出する際に、2種類の欠陥検出ゲートを設け、しきい値を超える前記欠陥に基づく反射波信号を検出したゲート数を求め、欠陥が板厚中心面に対してどちら側の鋼板内に存在するのかの判別を可能にした。例文帳に追加
When a reflection wave signal is generated by the defect and detected, two types of defect detecting gates are provided, the number of gates for detecting the reflection wave signal generated by the defect and exceeding a threshold value is found, and the location of the defect relative to the central face in thick can be determined. - 特許庁
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「欠陥中心」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 100件
基板上の層間絶縁膜の欠陥部201に、リペア中心座標202を中心とするカット穴203を形成する。例文帳に追加
A cut hole 203 having its center at repair center coordinates 202 is formed in the defect part 201 of an inter-layer insulating film on the substrate. - 特許庁
本発明の欠陥検出方法は、透明板状体の透過光を用いて欠陥を検出する欠陥検出方法において、照明光の中心と検出器の光学的中心とを直線上に配置し、さらに、光軸上に照明光を遮光する遮光体を設ける。例文帳に追加
In the defect detecting method for detecting defects through the use of light transmitted through a transparent-plate-like body, both the center of illumination light and the optical center of a detector are arranged on a straight line, and a light shielding body for shielding illumination light is provided on an optical axis. - 特許庁
ドリフト領域4内に形成されている結晶欠陥には、バンドギャップの中心からのエネルギー差が0.2eV未満の領域内に形成されている結晶欠陥を終端処理することにより生じるトラップ準位の結晶欠陥が含まれている。例文帳に追加
A crystal defect formed in the drift region 4 includes a crystal defect of a trap level generated by performing termination processing to the crystal defect formed in a region of <0.2 eV in an energy difference from the center of a band gap. - 特許庁
アモルファス・セレン(a−Se)半導体厚膜形成時に潜在的に生成される構造欠陥と、欠陥の電荷捕獲中心への変化を最低限に抑えて、感度が劣化しない大面積X線検出器を提供する。例文帳に追加
To provide an X-ray detector with a large area which does not degree by suppressing a minimum structural defect latently produced during forming an amorphous-selenium (a-Se) semiconductor thick film and a variation in the defect to a charge capture center. - 特許庁
バンドギャップの中心からのエネルギー差が0.2eV未満の領域内に形成されている結晶欠陥を終端処理することにより生じるトラップ準位の結晶欠陥は、リーク電流に対する依存性が弱い。例文帳に追加
The crystal defect of the trap level generated by performing termination processing to the crystal defect formed in the region of <0.2 eV in the energy difference from the center of the band gap is small in dependency with respect to a leak current. - 特許庁
したがって、外周部から中心部に向かって多系などのマクロ欠陥、基底面転位などのミクロ欠陥が伸展するという問題が発生することを防止できる。例文帳に追加
Therefore, the emergence of problems including the extension of macroscopic defects such as polycrystalline systems headed to the center from the outer periphery and the extension of microscopic defects such as basal surface dislocation is prevented. - 特許庁
被加工材の内部に応力及びひずみを集中させ、内部、特にピン部等中心部の欠陥の閉塞を効率よく行うことにより、クランクスロー等の鍛造材の内部欠陥を改善する鍛造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a forging method for remedying the internal defect of a forged material such as a crank throw by concentrating stress and strain on the inside of a workpiece and efficiently performing stoppage of the defect in the inside, especially a center part such a pin part. - 特許庁
前者の圧延では、板厚中心部のUST検出可能サイズ以下の欠陥(未圧着ザク性欠陥)を解消し、後者の圧延では結晶粒微細化を行う。例文帳に追加
The former rolling solves the defect of the size equal to or below that detectable by UST in the center part of the plate thickness (micro cavity not rolled-in yet), and, in the latter rolling, crystal grain refining is executed. - 特許庁
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defect center
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