欠陥準位の英語

次いで、マスク欠陥修正装置でマーカ３０を検出すると共に、該マーカ３０の位置を基準にして欠陥２０を修正する。例文帳に追加

Subsequently, the marker 30 is detected by the mask defect correction device, and the defect 20 is corrected with reference to the position of the marker 30. - 特許庁

潜在する赤目欠陥の位置が突き止められ、そして再検査基準にもとづき、実際に赤目欠陥が存在するかどうかが判定される。例文帳に追加

A position where the potential red-eye defects are located is found, and a decision is made, based upon reinspection criteria, as to whether there are, indeed, red-eye defects. - 特許庁

基準画像と検査対象画像との比較検査により欠陥を含むと判定された検査対象画像（欠陥画像と呼ぶ）の保存装置であって、基準画像保存手段と、欠陥部分抽出手段と、欠陥部分保存手段と、欠陥座標保存手段と、位置ずれ量保存手段とから成るようにした欠陥画像保存装置。例文帳に追加

The preserving device of the image (called 'the defective image') to be inspected and decided to include a defect by a comparison inspection of the image to be inspected with a reference image comprises a reference image preserving means, a defective part extracting means, a defective part preserving means, a defect coordinate preserving means, and a positional deviation amount preserving means. - 特許庁

不純物準位や欠陥準位を正確に求めることができる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technique capable of obtaining impurity level and defect level accurately. - 特許庁

画像処理回路５で欠陥が検出されたときは、検出された欠陥について基準エッジ位置を基準とした座標を欠陥座標算出回路６で求める。例文帳に追加

When the flaw of the inspection target 1 is detected in the image processing circuit 5, the coordinates based on the reference edge position are calculated with respect to the detected flaw in a flaw coordinates calculating circuit 6. - 特許庁

演算手段には、欠陥の種類に応じて予め設定された切断位置に関する判断基準が記憶されており、演算手段は、欠陥検査手段から出力された欠陥の種類と、判断基準とに基づき、仮の切断位置を切断位置とするか、或いは、欠陥検査手段から出力された欠陥の位置を切断位置とするかを決定する。例文帳に追加

A criterion of the cutting position previously set in accordance with the type of defect is stored in the arithmetic means, which decides, based on the type of defect outputted from the defect inspecting means and on the criterion, which is to be the cutting position, the tentative cutting position or the position of the defect outputted from the defect inspecting means. - 特許庁

基準となった原点Ｍと組合せをなす記号を示す記号情報と、算出した欠陥座標を示す欠陥座標情報とを含む欠陥位置情報を生成する。例文帳に追加

Defect position information including sign information for showing signs combined with the reference home position M and defect coordinate information showing the calculated defect coordinates are generated. - 特許庁

ここで、どの差画像データにおいても共通の位置に同様の形状で検出された欠陥は、基準チップＡ４０１の欠陥（チップ左下端の欠陥）と判断できる。例文帳に追加

In this case, defects detected in the similar shape at a common position in any differential image data can be determined to be defects (defects at the lower left end of the chip) of the reference chip A401. - 特許庁