歪力計の英語

補間フルバンド構造算出ユニット５は、半導体素子中の歪みを応力・歪み入力手段１より入力し、歪みフルバンド構造ライブラリ２と補間フルバンド構造計算手段３により、応力・歪みに基づいた補間を用いて、歪みを直接考慮したフルバンド構造を算出する。例文帳に追加

An interpolation full-band structure calculation unit 5 receives strain within the semiconductor element from a stress-strain input means 1 and calculates the full-band structure directly considering strain with a strain full-band structure library 2 and an interpolation full-band structure calculation means 3 through interpolation based on stress-strain. - 特許庁

応力円板に可撓性の荷重伝達部を介して荷重を加える形式の歪ゲージ方式の力計例文帳に追加

STRAIN GAUGE TYPE POWER METER APPLYING LOAD TO STRESS DISK VIA FLEXIBLE LOAD TRANSFER SECTION - 特許庁

符号器１０は，入力画像の歪みベクトルを計算する歪み補償手段１０１と，歪みベクトルを用いて，背景画像に対して所定の歪みを持った歪み背景画像を生成する歪み背景画像生成手段１０５と，歪み背景画像を参照して，入力画像を符号化する画像符号化手段１０６と，歪みベクトルを符号化するベクトル符号化手段１０４を含む。例文帳に追加

A coder 10 includes a compensation means 101 for calculating a distortion vector for an input image, a background image generation means 105 for generating a distortion background image having a predetermined distortion to a background image using the distortion vector, an image coding means 106 for coding an input image by referring to the distortion background image, and an image coding means 104 for coding the distortion vector. - 特許庁

シーツ１は、一つ又は複数個の起歪板５と、起歪板５の歪みを検出し、被験者の生体情報の計測に用いられる信号を出力する歪み検出センサ６と、シーツ本体２と、を備える。例文帳に追加

This sheet 1 has one or more strain-inducing plates 5, a strain detection sensor 6 for detecting strain of the strain-inducing plates 5 and outputting a signal used to measure biometric information on the subject, and a sheet body 2. - 特許庁

簡便にして小型化され、正確な歪み、変位、力を計測することができる立体型歪みセンサを提供する。例文帳に追加

To provide a solid type strain sensor, which is convenient and miniaturized and then can measure accurate strain, displacement, and force. - 特許庁

また、荷電粒子線遮蔽膜３へのマスク歪計測用マーク４の形成により発生する応力歪を抑制することができる。例文帳に追加

Besides, the mask distortion can be suppressed due to stresses generated by forming the mask-distortion measurement marks 4 on the charged-particle-beam shielding film 3. - 特許庁

さらに、ＣＮＴ ＦＥＴは、集積回路における、機械的応力及び歪み並びに熱的応力及び歪みのいずれかを含む応力及び歪みを計測するのに用いられる。例文帳に追加

Furthermore, the CNT FET is used for measuring a stress and a distortion in the integrated circuit containing any of a mechanical stress and a mechanical distortion as well as a thermal stress and a thermal distortion. - 特許庁

顕微分光計測、特に、顕微ラマン計測を用いた応力（歪み）計測過程をシミュレートする方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method to simulate a stress (strain) measurement process using a microscopic spectroscopic measurement, particularly a microscopic Raman measurement. - 特許庁