比較試験の英語

ハードウェア比較による好機をねらったＣＰＵ機能試験例文帳に追加

OPPORTUNISTIC CPU FUNCTIONAL TESTING WITH HARDWARE COMPARISON - 特許庁

被試験回路の波形は波形測定部で測定し、比較部にて基準波形との比較を行う。例文帳に追加

The waveform of a circuit which is to be tested is measured at a waveform measuring part, and compared with a reference waveform at a comparing part. - 特許庁

機構は比較器から分離されているので、異なる比較器を設計、試験する必要は無い。例文帳に追加

Since the mechanism is separated from the comparator 15, it is not necessary to design or test any different comparator. - 特許庁

試験体Ｓ２を動かないよう固定する場合と比較して試験体の駆動される相対速度が２倍となるので試験時間が半減される。例文帳に追加

Since a driven relative speed of the test pieces is doubled in comparison with immovably fixing the test piece S2, the test time is reduced by half. - 特許庁

試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と比較する方法例文帳に追加

METHOD OF COMPARING FEATURE OF TEST RECORD WITH FEATURE OF REFERENCE RECORD - 特許庁

印加電圧と出力電圧Ｖとを比較して動作試験を行う。例文帳に追加

The applied voltage is compared with the output voltage V for operational test. - 特許庁

任意の外部装置や伝送路を経由して試験部１４に試験データが戻ってくると、試験データ制御部１４５は外部からのデータ書込み時に試験データ記憶部１４５１に予め記憶しておいた試験データＡと、戻ってきた試験データとを比較し、比較結果を制御部１５に通知する。例文帳に追加

When the testing data A are returned to a testing unit 14 through the intermediary of an optional external device or a transmission line, the test data control unit 145 compares the testing data A previously stored in a testing data storing unit 1451 when external data are written with the returned testing data A, and informs the control unit 15 of a comparison result. - 特許庁

更に、自己試験回路は、試験データをメモリセルに書き込んだ後に、そのメモリセルから読み出した読み出しデータが、書き込んだ試験データと同じか否かを比較し、その比較結果を蓄積する。例文帳に追加

Also, after test data is written in a memory cell, the self-test circuit discriminates whether the data read out from the memory cell is same as the written test data or not, the comparison result is accumulated. - 特許庁