温度上昇試験の英語

ペルチェ素子を用いた電子部品の温度試験装置において、低温および高温の槽内状態を効率よく作り出すことにより、被試験物の温度上昇、下降時間を短縮する。例文帳に追加

To shorten a temperature rise and fall time of a tested object by efficiently creating a low temperature and high temperature state, in a tank of an electronic component temperature testing device that uses Peltier elements. - 特許庁

高価な装置を必要とせず、小さな試験体を用いた実験から精度よくコンクリートの断熱温度上昇量を推定する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for accurately estimating an adiabatic temperature rise of concrete from an experiment using a small test body, without requiring expensive devices. - 特許庁

架台を使用しない自冷式ガス絶縁変圧器の温度上昇試験を行う方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and apparatus for performing temperature increasing tests of a self-cooling type gas-insulated transformer which does not use a carrier base. - 特許庁

過熱検知回路内蔵の集積回路と温度上昇回避制御手段内蔵の集積回路及びそのバーンイン試験方法例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN OVERHEAT DETECTING CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEMPERATURE RISE AVOIDING/CONTROLLING MEANS, AND METHOD OF THEIR BURN-IN TEST - 特許庁

走行によりトレッドの温度を十分に上昇させ、正確なタイヤ特性を測定可能とするタイヤ試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a tire testing device for measuring accurate tire characteristics by fully increasing a temperature of treads by traveling. - 特許庁

個別温度制御部は、個別ヒータを個別に動作または停止させて、目標温度からずれた被試験デバイスの温度を目標温度まで個別に上昇させる。例文帳に追加

An individual temperature controller operates or stops the operation of the individual heaters individually to raise the temperature, different from a target temperature, of each device up to the target temperature. - 特許庁

簡単な構成で、試験体の温度が過度に上昇することがなく、一定の昇圧率で圧力を印加することの出来る高圧水素試験設備や高圧水素充填設備での充填制御方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of filling control in high pressure hydrogen test equipment and high pressure hydrogen filling equipment capable of applying pressure at a constant pressure rising rate without an excessive rise in temperature of an object to be tested, with a simple structure. - 特許庁

除霜による室内温度の上昇による試験資料への影響を無くすために 、試験室の扉の開閉による冷凍機の着霜を防止することが重要な課題である。例文帳に追加

To prevent frosting of a refrigerator caused by opening/closing of a test chamber door, in order to remove an influence on a test sample by a temperature rise in the chamber caused by defrosting. - 特許庁