記憶域テストの英語

テスト領域ＴＲの呈色状態が濃淡値として読み取られた際、パターン記憶手段２３に記憶したテスト領域ＴＲが呈色した状態を表したテンプレート情報ＴＰと読取手段２１により読み取られたテスト領域ＴＲとの類似度が算出される。例文帳に追加

When a colored state of the test area TR is read as a gray value, a similarity between template information TP representing the colored state of the test area TR stored in a pattern storage means 23 and the test area TR read by a reading means 21 is calculated. - 特許庁

記録媒体にテストパターンを形成する際に、記憶装置などの記憶領域を必要とせず任意のテストパターンを柔軟に形成することができること。例文帳に追加

To flexibly form an arbitrary test pattern without requiring a memory area such as a memory medium when the test pattern is formed on a recording medium. - 特許庁

本発明におけるテストシステムは、ユーザープログラムのテストを行うテストシステムであって、テスト実行命令を含むユーザープログラムを実行するユーザープログラム実行部と、テスト実行命令に応じて読み出され実行されるテストプログラムを書き換え可能に格納するテストプログラム格納領域を予め設けたテストプログラム記憶部と、テストプログラムを入力しテストプログラム格納領域に格納するテストプログラム入力部を備えたテストシステムである。例文帳に追加

This test system performing a test in a user program has: a user program execution part executing the user program including a test execution instruction; a test program storage part previously provided with a test program storage area rewritably storing the test program read and executed according to the test execution instruction; and a test program input part inputting the test program and storing it in the test program storage area. - 特許庁

ダミービット線領域の不良をウェハテスト時に効果的に検出することができる半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory in which defect in a dummy bit line region can be detected effectively at a wafer test. - 特許庁

フェイル情報を格納するのに必要なテスト回路の記憶領域を縮小することができる半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device capable of reducing the storage area of a test circuit necessary for storing fail-information. - 特許庁

ＩＳＰ情報領域には事前に接続テストを行い、接続を保証可能なインターネットサービスプロバイダを示すデータを記憶する。例文帳に追加

An ISP information area stores data denoting Internet service providers whose access is warranted according to an access test in advance. - 特許庁

テスト記録領域にディフェクトが検出された時、外乱により正常な記録が行われなかった時は、パワー設定値をパワー設定記憶部１４の退避メモリ領域に書き込み、テスト記録領域に該パワー設定値に基づく記録パワーでテスト信号の記録を行う。例文帳に追加

In the unit test recording area where a defect exists, no reproducing signal can be obtained corresponding to the power setting value; however, such signal can be obtained in the unit test recording area as a saving area. - 特許庁

発生したテストパターンデータを標準メモリに記憶し、装着した増設メモリの全ての領域に対して繰り返し書き込み、書き込み済みのテストパターンデータをプリントアウトする。例文帳に追加

Generated test pattern data is stored in a standard memory, repeatedly written in all the areas of the mounted expansion memory and written test pattern data is printed out. - 特許庁