試験にパスするの英語

また、試験実行部１００は、試験シナリオに基づいて試験を実行したプログラム中のパスを、フローチャート上に明示して出力するようにしたので、試験済みのパスを視覚的に把握することができる。例文帳に追加

Because the test execution part 100 explicitly outputs a path inside the program executed with a test on the basis of the test scenario onto a flow chart, the already tested path can be visually grasped. - 特許庁

加入者回路に対して、オフフック検出機能の試験と音声パスの正常性の試験を一連の処理として行うことのできる加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a subscriber circuit testing device, subscriber circuit testing system, subscriber circuit testing method and subscriber circuit testing program which enable a test of an off-hook detection function and a test for the normality of a voice path to be applied to a subscriber circuit as a series of processing. - 特許庁

試験光源２０の試験光出力経路に、試験光を透過すると共に試験光のサイドモードを抑制する誘電体多層膜型フィルタ（バンドパスフィルタ）２２を設置する。例文帳に追加

A dielectric multilayer film type filter (band-pass filter) 22 for transmitting test light and suppressing a side mode of the test light is installed on a test light output route of a test light source 20. - 特許庁

このとき、ＰＬＬカウンタコピーは、ＬＳＩをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。例文帳に追加

At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method. - 特許庁

入口ノード１０は、パス設定プロトコルに従って、パスを設定し、パスの設定が行われた後に、設定されたパスを指定して、試験信号を出口ノードに送信するし、出口ノードによって折り返し送信された試験信号を受信して、試験信号を解析して正常であるか判定する。例文帳に追加

An inlet node 10 sets a path according to path setting protocol, specifies the set path after the path setting completes to send a test signal to an outlet node, receives the test signal sent back by the outlet node and analyze the test signal to determine whether it is normal or not. - 特許庁

半導体試験装置１００は、データジェネレータ１２からＤＵＴ４０に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ５１で比較してパス／フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ１８にバースト転送して試験効率を向上する。例文帳に追加

A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18. - 特許庁

バイパス通路２４ａは、動作試験時に切換えスイッチ２４ｂをバイパスして制御回路１２と第１電源ユニット２２とを接続する。例文帳に追加

The bypass passage 24a bypasses the changeover switch 24b so as to connect a control circuit 12 and the first power supply unit 22 during the period of operation test. - 特許庁

耐圧試験時に減圧機能を抑制することができるバイパス機構を有し、耐圧試験後において、正常な減圧機能動作を保証することができる減圧弁を提供すること。例文帳に追加

To provide a reducing valve having a bypass mechanism capable of suppressing a pressure reduction function at the time of a pressure proof test, and of guaranteeing to operate a normal pressure reduction function after the pressure proof test. - 特許庁