試験終了の英語

二次加速試験終了時点での活性化エネルギーを求める。例文帳に追加

The activation energy at the finish time of the secondary accelerated test is obtained. - 特許庁

材料試験機における耐力試験、弾性率試験が終了した後、試験片伸び計が試験片から自動的に離脱することができる試験片伸び計を提供する。例文帳に追加

To provide a test piece extensometer capable of enabling a test piece extensometer to automatically separate from a test piece after breakdown test and elastic modulus test in a material testing machine. - 特許庁

試験終了後の試験片の残存や、次回試験片の大きさの変化等があっても、次回試験のためのクロスヘッドがこれら試験片等に衝突することがない材料試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a material testing machine preventing collision of a crosshead to a test piece or the like for a next test even when there is a remaining test piece after a test or a change in size or the like of a next test piece. - 特許庁

過去に同一の試験処理があれば、対応する試験条件を試験条件記憶部１３に保持させ、試験処理を実行し、試験処理終了後に、実行状況記憶部１５にこの試験条件の処理履歴を記憶する。例文帳に追加

If the same test process existed in the past, corresponding test conditions are stored in the test condition memory section 13, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in an implementation state memory section 15 after the completion of the test process. - 特許庁

サーバ３０４は、ユーザによる試験予約終了日時以前の試験の申込みを受け、試験予約を行う。例文帳に追加

The server 304 receives user's application for test before the test reservation terminating date and time, and makes a reservation for test. - 特許庁

試験の作業効率を向上させ、試験開始又は試験終了後の操作ミスを防止することができるテストプラグ用保護カバーを提供すること。例文帳に追加

To provide a protective cover for test plug that improves test efficiency while preventing an operation error at the start or end of a test. - 特許庁

試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。例文帳に追加

To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time. - 特許庁

過去に同一の試験処理がなければ、その試験条件を試験条件設定部１４から試験条件記憶部１３に記憶させて試験処理を実行し、この試験処理終了後、実行状況記憶部１５にその試験条件の処理履歴を記憶する。例文帳に追加

If no same test process existed in the past, the test conditions are stored in the test condition memory section 13 from a test condition set section 14, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in the implementation state memory section 15 after the completion of the test process. - 特許庁