意味 | 例文 (41件) |
走査透過型電子顕の英語
追加できません
(登録数上限)
英訳・英語 scanning transmission electron microscope
「走査透過型電子顕」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 41件
走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
走査型透過電子顕微鏡例文帳に追加
透過型および走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法例文帳に追加
ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置例文帳に追加
OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
-
履歴機能過去に調べた
単語を確認! -
語彙力診断診断回数が
増える! -
マイ単語帳便利な
学習機能付き! -
マイ例文帳文章で
単語を理解!
「走査透過型電子顕」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 41件
走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。例文帳に追加
To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed. - 特許庁
透過型電子顕微鏡(TEM)、走査透過型電子顕微鏡(STEM)、走査型電子顕微鏡(SEM)、集束イオン・ビーム(FIB)システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。例文帳に追加
To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system. - 特許庁
元素マッピング装置,走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法例文帳に追加
ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD - 特許庁
元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法例文帳に追加
ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD - 特許庁
元素マッピング装置、走査透過型電子顕微鏡及び元素マッピング方法例文帳に追加
ELEMENT-MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELEMENT-MAPPING METHOD - 特許庁
共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び3次元断層像観察方法例文帳に追加
CONFOCAL SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL TOMOGRAPHIC OBSERVATION METHOD - 特許庁
走査透過型電子顕微鏡装置で分析対象物(5)を透過した電子線は元素マッピング装置に入射する。例文帳に追加
An electron beam transmitting through an object 5 to be analyzed in this scanning transmission electron microscope enters the element mapping device. - 特許庁
走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法例文帳に追加
COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
意味 | 例文 (41件) |
ピン留めアイコンをクリックすると単語とその意味を画面の右側に残しておくことができます。 |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |
「走査透過型電子顕」のお隣キーワード |
weblioのその他のサービス
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |