高分解能時間領域の英語

半導体薄膜が溶融して薄膜の所定の領域が結晶化する状態を、リアルタイムでかつ数μｍ以下の高空間分解能及び高時間分解能で観測することを可能にすることである。例文帳に追加

To provide a technology whereby how a semiconductor thin film is melted and a prescribed region of the thin film is crystallized can be monitored at a high spatial resolution on the order of several μm or below and at a high temporal resolution in real time. - 特許庁

各回の計測時間を短縮化したダイナミックＭＲＡにおいて、高周波数領域の時間分解能の劣化と、画像の方向依存性をなくする。例文帳に追加

To provide a means for eliminating not only deterioration of time resolution of a high-frequency range of dynamic MRA whose respective measurement time is reduced, but also direction dependence of images. - 特許庁

検査領域内に単一の粒子しか存在しない場合であっても測定可能であり、かつ高い空間分解能と時間分解能で多点の流速、即ち流速の空間分布を測定することができる空間フィルタ流速計を提供する。例文帳に追加

To provide a spatial filter flowmeter with which measurement is possible even when only a single particle exists in an inspection area, and multipoint flow speed, namely, spatial distribution of the flow speed can be measured with high spatial resolution and high temporal resolution. - 特許庁

所望領域に造影剤が到達した時点からの画像を得るため、造影剤の注入を開始してから、まず解像度を落とすことにより高い時間分解能でリアルタイム撮影を行う。例文帳に追加

In order to obtain the image when the contrast agent reaches the desired domain, a real time image is acquired at low-resolution mode which enables a high time-resolution monitoring after the start of the contrast media injection.発音を聞く  - 特許庁

ビームラインが短く、分解能が高く、且つ短時間で２次元領域の測定が可能な分析装置、特にＸＡＦＳ分析装置又は小角散乱Ｘ線分析装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an analyzer, especially an XAFS analyzer or a small angle scattering X-ray analyzer having a short beam line and high resolving power and capable of measuring a two-dimensional region in a short time. - 特許庁

物質の過渡吸収を測定する過渡吸収測定装置において、プローブ光源として定常光を、光検出手段としてアバランシェフォトダイオードを使用することにより、紫外領域から近赤外領域まで幅広い領域において高い測定精度かつ高い時間分解能で過渡吸収測定が可能である。例文帳に追加

In the transient absorption measuring instrument for measuring the transient absorption of a substance, steady light is used as a probe light source and an avalanche diode is used as a light detection means to measure the transient absorption over the wide region from the ultraviolet region to the near infrared region with high measuring precision and high time resolving power. - 特許庁

電位状態に伴う走査領域の歪曲や電位の深さを適切に補正し、電位分布をミクロンオーダーの高分解能で、短時間で測定する表面電荷分布の測定方法および表面電荷分布の測定装置を得る。例文帳に追加

To obtain a measuring method of surface charge distribution and a measuring device of surface charge distribution capable of measuring potential distribution in a short period of time with micron order high resolution by properly correcting the distortion of a scanning area and the depth of potential associated with the condition of potential. - 特許庁

加工対象物の表面にアブレーション・プラズマを、加工対象物内部に応力ひずみ領域を発生させ、プラズマから発生する衝撃波を利用して、応力ひずみ領域内にクラックを成長させることで、短時間かつ高い分解能で加工対象物をレーザ加工する方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method of laser beam machining of a workpiece in a short time and with a high resolution, by generating ablation plasma on the surface of the workpiece, producing a stress deformation region inside the workpiece, and thereby growing a crack in that region using a shock wave from the plasma. - 特許庁