高分解能走査型電子顕微鏡の英語

走査型電子顕微鏡１及び走査型プローブ顕微鏡を組み合わせることができ、さらに、走査型電子顕微鏡１の高分解能を実現しつつ、プローブＡ１１を試料Ｗ及び鏡筒先端間に導入可能にする。例文帳に追加

To provide an analyzer using an electron beam capable of combining a scanning electron microscope 1 and a scanning probe microscope and introducing a probe A11 between a sample W and the top end of a body tube while achieving high resolution of the scanning electron microscope 1. - 特許庁

走査型電子顕微鏡を用いて試料の略全域を高分解能で観察することができる顕微鏡用試料ホルダ、及びそのような顕微鏡用試料ホルダを具備する電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder for a microscope that can observe almost a total region of a sample with high resolution using a scanning electron microscope, and to provide an electron microscope equipped with such a sample holder for a microscope. - 特許庁

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining a high-resolution and high-contrast concavoconvex image of a sample surface. - 特許庁

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which obtains a high-resolution and high-contrast concavo-convex image of a sample surface. - 特許庁

広視野、高分解能、高効率検出、均一検出効率の走査型電子顕微鏡を低コスト省スペースで提供する。例文帳に追加

To provide an inexpensive and space-saving scanning electron microscope having a wide visual field, high resolution, high efficiency detection, and uniform detection efficiency. - 特許庁

二次電子像での高分解能化が可能であり、かつＴＴＬ方式の走査型電子顕微鏡にてコントラストの良い反射電子像を効果的に得ることが課題である。例文帳に追加

To provide a TTL-mode scanning electron microscope capable of giving high resolution to a secondary electron image and effectively providing a reflected electron image with good contrast. - 特許庁