高解像電子顕微鏡の英語

クーロン効果によるボケの発生を少なくして解像度を高めることができる写像型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a mapping type electron microscope capable of improving resolution by lessening the occurrence of a blur by the coulomb effect. - 特許庁

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining a high-resolution and high-contrast concavoconvex image of a sample surface. - 特許庁

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which obtains a high-resolution and high-contrast concavo-convex image of a sample surface. - 特許庁

これにより、写像型電子顕微鏡全体として歪曲収差が小さくなり、高分解能で試料を観察することができる。例文帳に追加

Thereby the total distortion aberration of mapping type electron microscope becomes small, and the sample can be observed with high resolution. - 特許庁

本発明は低加速電圧領域で空間分解能の高い走査像を得ることの出来る走査形電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which produces scanning image with high space resolution at a low-acceleration voltage area. - 特許庁

広視野での歪曲収差を抑えることができ、高分解能で試料を観察できる写像型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a mapping type electron microscope capable of suppressing the distortion aberration in a wide field of view and observing a sample with a high resolution. - 特許庁

高分解能の電子顕微鏡の特徴であるノイズ成分を多く含む画像に対し、ノイズの低減と画像の輪郭の強調という、従来技術では相反する画像処理を同時に行うことのできる電子顕微鏡の画像処理システムを提供する。例文帳に追加

To provide an electron microscopic image processing system, capable of simultaneously performing reduction in noise and contour emphasis of an image which are conflicting image processing in the conventional art, in regard to an image containing many noise components which is a characteristic of a high-resolution electron microscope. - 特許庁

短焦点の対物レンズを用いた電子顕微鏡装置において、低加速電圧条件での観察時に、低倍率から高倍率までの広い倍率範囲において高解像度で歪みのない良好な画像の取得を可能とする電子顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electron microscope device using a short focus objective lens that enables acquiring a good image of high resolution without any distortion in a wide range from low magnification to high magnification at the observation in low acceleration voltage condition. - 特許庁