高速試験装置の英語

ＩＣの高速試験方法及び装置例文帳に追加

HIGH-SPEED TEST METHOD AND DEVICE OF IC - 特許庁

高速製品の試験方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HIGH-SPEED PRODUCT - 特許庁

高速電気めっきの内部応力試験装置例文帳に追加

APPARATUS FOR TESTING HIGH-SPEED ELECTROPLATING INTERNAL STRESS - 特許庁

高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置例文帳に追加

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE INCLUDING HIGH-SPEED INPUT/OUTPUT DEVICE - 特許庁

従来の試験装置を用いて高速の試験を行うことができる電子デバイスを提供する。例文帳に追加

To provide an electronic device being tested at high speeds through the use of a conventional testing apparatus. - 特許庁

低速の試験装置を使用しつつも半導体装置の高速試験を可能にした半導体試験回路を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing circuit that can realize a high- speed test for semiconductor device even by using a low-speed testing device. - 特許庁

低コスト、且つ高速度で半導体メモリ等の被試験デバイスを試験することができる試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device capable of testing the device to be tested such as a semiconductor memory with low cost and at high speed. - 特許庁

データの書込み時間を短縮することで試験の高速化を可能とするデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and method for testing a device by which a test can be speeded up by shortening time for writing data. - 特許庁