Backscattered electronsとは 意味・読み方・使い方

To provide an image display device capable of reducing halation caused when backscattered electrons reenter a fluorescent material.例文帳に追加

後方散乱電子が蛍光体へ再突入することによって生じるハレーションを低減させることができる画像表示装置を提供する。 - 特許庁

To effectively collect backscattered electrons in a vacuum vessel of an X-ray tube, and to effectively transmit heat energy generated by such electrons collected from the tube.例文帳に追加

Ｘ線管の真空容器の内部で後方散乱した電子を実効的に収集すると共に、管から収集されたこれらのような電子に起因して生ずる熱エネルギを実効的に伝達する。 - 特許庁

In a SEM, electrons which are emitted or backscattered from the specimen are collected to provide topological information, and atomic number or orientation information.発音を聞く 例文帳に追加

SEMでは、試料から放出または後方散乱される電子が集められ、表面凹凸の(地形図的な)情報および、原子番号または方位の情報を提供する。 - 科学技術論文動詞集

The electron shielding member is configured to withstand the elevated levels of heat generated by electrons backscattered from the anode and incident on the electron shielding member.例文帳に追加

電子遮蔽物は、アノードから後方散乱し、電子遮蔽物上に入射した電子によって発生した高いレベルの熱に耐えるように構成される。 - 特許庁

The throat segment and the lower portion of the bowl are composed of a heat-resistant material and correspond with the regions of the electron shielding member that are impacted by relatively many backscattered electrons from the anode surface.例文帳に追加

のど部およびボウルの下側部は、耐熱材料から構成され、アノード表面からの比較的多い後方散乱電子が衝突する電子遮蔽物の領域に相当する。 - 特許庁

To provide a material for a lithographic substrate which prevents halation efficiently and carries out an accurate electron beam exposure for very fine details by preventing backscattered electrons radiation out of the substrate upon high-energy electron beam irradiation in electron beam lithography.例文帳に追加

電子線リソグラフィにおいて、高エネルギーの電子線を照射したときに、後方散乱電子が基板から発生するのを防ぎ、効率のよいハレーション防止を達成させることができ、より微細な図形を正確に電子線露光することのできるリソグラフィ用基板材料を提供する。 - 特許庁

An electron microscope has: an electron beam lens-barrel 1 in order to irradiate an electron beam 1a to a sample 11; a sample stage 3 to support the sample 11; a scattered electron detector 6 in order to detect backscattered electrons discharged from the sample 11; and a focused ion beam lens-barrel 2 in order to irradiate the sample 11 with a focused ion beam 2b.例文帳に追加

試料１１に電子ビーム１ａを照射するための電子ビーム鏡筒１と、試料１１を支持する試料台３と、試料１１から放出される後方散乱電子を検出するための散乱電子検出器６と、試料１１に集束イオンビーム２ｂを照射するための集束イオンビーム鏡筒２とを有する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁