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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 英語表現辞典 > Product Testerの意味・解説 

Product Testerとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 消費者モニター


Weblio英語表現辞典での「Product Tester」の意味

Product Tester


「Product Tester」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 22



例文

Thank you for applying to become our product tester.発音を聞く 例文帳に追加

製品モニターへのご応募ありがとうございます。 - Weblio Email例文集

SHEET CONNECTOR, SEMICONDUCTOR TESTER, AND PACKAGED SEMICONDUCTOR PRODUCT例文帳に追加

シート状コネクタ、半導体検査装置および実装半導体製品 - 特許庁

To provide a drop tester for a semiconductor chip package product and usage thereof.例文帳に追加

半導体チップパッケージ製品の落下試験装置及びその使用方法を提供する。 - 特許庁

When another product which meets conditions of retrieval is found, reallocation is performed so as to measure the product by the tester 201a.例文帳に追加

検索の条件に合った別製品が見付かった場合には、その別製品をテスタ201aにより測定するように、割り付けをし直す構成となっている。 - 特許庁

To provide a connecting sheet for a tester head used for conducting inspection without bringing a solder ball into direct contact with the tester head by being interposed between the solder ball and the tester head in the inspection of electric characteristics of a semiconductor product with solder ball with an existing inspection device.例文帳に追加

従来の検査装置を使用して半田ボール付き半導体製品の電気特性を検査する際に、半田ボールとテスターヘッドとの間に介在させて、半田ボールとテスターヘッドとを直接接触させずに検査を行うために使用されるテスターヘッド用接続シートを提供する。 - 特許庁

To enable the product inspection of ASICs including LVDS receivers by generating only digital signals from an LSI tester.例文帳に追加

この発明は,LSIテスタからデジタル信号のみを発生させることでLVDSレシーバを含むASICの製品検査を可能にする。 - 特許庁

例文

Finally, a tester check is performed only once to discriminate a defective/non-defective product so that no check (S40) is necessitated before the trimming.例文帳に追加

最後に一回だけ、良品/不良品を判別するテスタ検査を行い、これにより、トリミング前の検査を不要とする(S40)。 - 特許庁

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「Product Tester」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 22



例文

The curable composition can form a cured product satisfying the following index formulas (1) and (2) in a loading-unloading test with a micro hardness tester.例文帳に追加

微小硬度計による負荷−除荷試験において、下記指標式(1)及び(2)を満たす硬化物を形成しうる硬化性組成物。 - 特許庁

This connecting sheet 6 for the tester head is arranged between the solder ball 5 of the semiconductor product and the tester head 1 of the inspection device, used for electric connection of them, and has a sheet base material 61 in which a plurality of conductive particles 5 coming into contact with the solder ball 2 are contained.例文帳に追加

半導体製品の半田ボール5と検査装置のテスターヘッド1との間に設置して両者を電気的に接続するために使用され、シート基材61に半田ボール2と接触する複数個の導電粒子5が配置されたテスターヘッド用接続シート6。 - 特許庁

In a test by tester handler, the defective mode stored in the nonvolatile memory circuit for a defective product is read out during defect analysis, a defective product having a defective mode required for analysis is selected.例文帳に追加

テスタ・ハンドラによる試験において、上記不良解析時に不良製品について不揮発性記憶回路に記憶された不良モードを読み出して、解析に必要な不良モードを持つ不良製品を選別する。 - 特許庁

To provide a sheet connector as an anisotropic conductive sheet for easily thinning a sheet, semiconductor tester and packaged semiconductor product using the above sheet connector.例文帳に追加

シートの薄肉化を容易化できる異方性導電シートであるシート状コネクタ、それを用いた半導体検査装置および実装半導体製品を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor inspection device which can realize inspection in an environment close to the actual use condition of a product, without requiring preparation of an expensive LSI tester, in inspecting a semiconductor device for radio communication.例文帳に追加

無線通信用の半導体装置を検査する際に、高価なLSIテスタを用意する必要がなく、製品の実使用状態に近い環境で検査を実現することができる半導体検査装置を得る。 - 特許庁

When performing the product inspection of the A/T 2, the characteristic value stored in the recording medium 16 is read by a completion inspection tester 18 and transmitted to the ECU 3 integral with the A/T by the CAN communication, the characteristic value being written in the ECU 3.例文帳に追加

A/T2の完成品検査時には、完検テスタ18が記録媒体16に記憶されている特性値を読み込んでA/T一体ECU3にCAN通信で送信し、この特性値がECU3に書き込まれる。 - 特許庁

A cured product of the composition has a water drain off time of30 min when it is measured by a mirror plane structured draining tester with a 700 mm long, a 700 mm wide, and a slant degree of 3°.例文帳に追加

熱硬化性樹脂組成物の硬化物は、縦700mm、横700mm、斜度3°の鏡面構造の排水性試験器で測定したときの、排水時間が30分以下である。 - 特許庁

例文

Every time when the input section 32 of the abnormality detection system performs a test for a plurality of semiconductor products, positional information data 15 of each semiconductor product on a wafer is inputted from a wafer prober and specified test results data 25 for the semiconductor product is inputted from an LSI tester 20.例文帳に追加

異常検出システム30の入力部32が、複数の半導体製品の試験を行う毎に、各半導体製品のウェーハ上における位置情報データ15をウェーハ・プローバーから入力し、この半導体製品に対する所定の試験結果データ25をLSIテスタ20から入力する。 - 特許庁

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