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T-cell memoryとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 T細胞記憶


JST科学技術用語日英対訳辞書での「T-cell memory」の意味

T cell memory


「T-cell memory」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 15



例文

The cell transistor T and the ferroelectric capacitor C together form one memory cell.例文帳に追加

セルトランジスタT及び強誘電体キャパシタCにより1つのメモリセルが構成される。 - 特許庁

The temperature sensor 150 detects the temperature (T) of the memory device 150, uses the data from the temperature sensor 150 and the reference memory cell 160 and updates writing current (Ix_PA, Iy_PA, Ix_AP, Iy_AP, Ix and Iy) used to program the array 100 of the memory cell 130.例文帳に追加

温度センサ(150)は、メモリデバイス(50)の温度(T)を検出し、温度センサ(150)及び基準メモリセル(160)からのデータを用いて、メモリセル(130)のアレイ(100)をプログラムするために使用される書き込み電流(Ix_PA、Iy_PA, Ix_AP, Iy_AP, Ix, Iy)を更新する。 - 特許庁

In addition, when used for flash programming a memory cell array 10, a relatively narrow threshold voltage distribution V_t is obtained.例文帳に追加

さらに、本発明によりメモリセルアレイ10のフラッシュプログラミングに使用した場合に比較的狭い閾値電圧分布V_tが得られる。 - 特許庁

Since a single wiring is required per a single memory cell row, an SRAM of T-type bit line structure is easily configured using the landscape-type memory cell MC, resulting in a smaller layout area and faster operation speed.例文帳に追加

1メモリセル行当り1本の配線を設ければよいので、横長型メモリセルMCを用いてT型ビット線構造のSRAMを容易に構成でき、レイアウト面積の縮小化と動作速度の高速化を図ることができる。 - 特許庁

A memory device comprises a memory cell array 1 in which the resistance change type memory cells M are arranged in a matrix, word lines W_1 to W_m, bit lines B_1 to B_n, plate electrode lines P_1 to P_n, and a transistor T.例文帳に追加

メモリ装置は、抵抗変化型のメモリセルMがマトリックス状に配置されたメモリセルアレイ1と、ワード線W_1〜W_mと、ビット線B_1〜B_nと、プレート電極線P_1〜P_nと、トランジスタTとを有する。 - 特許庁

In the case that power supply from a dry cell 61 is temporarily stopped and the supply is restarted, the time information T stored in the flash memory 80 is supplied to the RTC 87 and the updating of the time information T is newly started with the supplied time information T as the reference.例文帳に追加

乾電池61からの電力供給が一旦停止し、再び供給が開始された場合、フラッシュメモリ80に記憶されている時刻情報Tが、RTC87に供給され、その供給された時刻情報Tを基準として新たに時刻情報Tの更新が開始される。 - 特許庁

例文

This memory is provided with a memory cell array 11 having a ferroelectric storage element C and a transistor T for switch, and a low voltage write-in circuit 12 in which polarization quantity of a ferroelectric film of each memory cell is set to a lower value than a value at normal write-in and acceleration of imprint is reduced.例文帳に追加

強誘電体記憶素子Cとスイッチ用トランジスタTとを有するメモリセルのアレイ11と、各メモリセルの強誘電体膜の分極量を通常書込み時より低く設定し、インプリントの加速を低減する低電圧書込み回路12を具備することを特徴とする。 - 特許庁

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「T-cell memory」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 15



例文

The column control circuit 2 and the row control circuit 3 makes parasitic capacitance of the memory cell MC which is included in a unit cell array MAT00 and in which re-writing is not performed accumulate the prescribed electric charges at a time t 11.例文帳に追加

カラム制御回路2及びロウ制御回路3は、単位セルアレイMAT00に含まれ且つ書き換えを行わないメモリセルMCの寄生容量に、時刻t11で所定の電荷を蓄積させる。 - 特許庁

To provide a therapeutic or prophylactic agent by preventing the humectation, the differentiation and the activation of a dendritic cell, a B lymphocyte and a memory T lymphocyte in the onset joint of rheumatoid arthritis.例文帳に追加

本発明の目的は、慢性関節リウマチ患者の発症関節における樹状細胞、Bリンパ球、メモリーTリンパ球の浸潤、分化、活性化を防ぐことによる治療剤もしくは予防剤を提供することにある。 - 特許庁

An auxiliary precharging circuit 10 is installed with respect to a memory cell array part 1, a precharging circuit 4, in which an I/O data bus T and an I/O data bus B as well as a data bus are charged to a VDD level, a write buffer 5, and a read buffer 6.例文帳に追加

メモリセルアレイ部1、I/OデータバスT,B、データバスをVDDレベルに充電するプリチャージ回路4、ライトバッファ5、リードバッファ6に対し、補助プリチャージ回路10を設ける。 - 特許庁

One electrode in each memory capacitor C in a memory cell MC is connected to one of plural bit lines BLi through a corresponding selection transistor T and the other electrode is connected to one of plate segments PLA, PLB, PLC and PLD.例文帳に追加

メモリセルMCにおける各メモリキャパシタCの一方の電極は、対応する選択トランジスタTを介して複数のビットラインBLiのうちの1つと接続されており、他方の電極はプレートセグメントPLA,PLB,PLC,PLDの1つと接続されている。 - 特許庁

Cell blocks MCB0, MCB1 constituted by connecting in series plural memory cells MC in which a ferroelectric capacitor C and a cell transistor T are connected in parallel between terminals N1 and N2 is formed along a pair of bit lines BBL, BL.例文帳に追加

強誘電体キャパシタCとセルトランジスタTを並列接続してなるメモリセルMCを端子N1,N2の間に複数個直列接続して構成されたセルブロックMCB0,MCB1が対をなすビット線BBL,BLに沿って形成される。 - 特許庁

At startup time, a controller 26 determines the operating condition at startup time, in accordance with the temperature T_cell of a fuel cell stack 2 which is detected by a temperature sensor 21, and the startup enable temperature Tp which is recorded within a nonvolatile memory.例文帳に追加

起動時、コントローラ26が、温度センサ21により検出された燃料電池スタック2の温度T_cellと不揮発性メモリ内に記録されている起動可能温度Tpとに基づいて起動時の運転条件を決定し、決定した運転条件で燃料電池スタック2を起動する。 - 特許庁

When a memory cell at the left end is selected, data read out on bit lines BL, BL bar are inputted through a PMOS transistor T to the first local sense amplifiers and a sense output is placed on the read data bus.例文帳に追加

図中左端のメモリセルが選択されると、ビット線BL,BLバー上の読み出しデータはPMOSトランジスタTを通して第1ローカルセンスアンプに入力され、これが第1、第2ローカルセンスアンプでセンスされて、そのセンス出力が読み出しデータバスに出力される。 - 特許庁

例文

On the basis of a value in the index part of a cell generating interval T recorded in a memory 101, a decimal part digit number arithmetic circuit 111 changes the assignment of digits in a decimal part and an integral part in a first floating/fixed converting circuit 103 and a digit-matching circuit 107.例文帳に追加

メモリ101に記録されたセル発生間隔Tの指数部の値に基づいて、小数部桁数演算回路111によって、第1の浮動/固定変換回路103及び桁あわせ回路107の、小数部の桁数と整数部の桁数の割り当てを変更する。 - 特許庁

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