Visual Appearance Inspectionとは 意味・読み方・使い方

VISUAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND VISUAL APPEARANCE INSPECTION METHOD FOR SUBSTRATE例文帳に追加

基板の外観検査装置および外観検査方法 - 特許庁

The visual inspection device 1 is equipped with a pre-inspection means 3 for performing the pre-inspection related to a sample 23 before the visual inspection of the sample is performed by a visual inspection means 2 in addition to the visual inspection means 2 for inspecting the appearance of the sample 23 from the photographed image obtained by photographing the surface of the sample 23.例文帳に追加

外観検査装置１は、試料２３の表面を撮像して得た撮像画像からその外観を検査する外観検査手段２に加えて、この外観検査手段２が試料２３の外観検査を行う前に試料２３について所定の前検査を行う前検査手段３を備えて構成される。 - 特許庁

To provide a visual examination device that inspects the appearance state of an inspection target in a short inspection time, and to provide an image processing method thereof.例文帳に追加

短い検査時間で被検査物の外観の状態を検査することが可能な外観検査装置およびその画像処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device that can readily and surely inspect the appearance of an inspection object as a whole.例文帳に追加

被検査物の外観全体を容易且つ確実に検査することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method for a mounting board, dispensing with work stop required for replacement of inspection parameters, even when a different-appearance and difference-type part of the same kind is used together.例文帳に追加

同一品種で外観の異なる別タイプ部品を混用する場合にあっても、検査パラメータの入れ換えのための作業停止が発生しない実装基板の外観検査装置および外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a visual inspection method capable of inspecting even an inspected object of complicated appearance structure with a relatively simple constitution at a relatively high speed to shorten the inspection time, a visual inspection device therefor and a manufacturing equipment for an electronic circuit substrate.例文帳に追加

被検査物が複雑な外観構造のものであっても、比較的簡単な構成で、検査時間が比較的高速で検査できる外観検査方法、外観検査装置及び電子回路基板の製造装置を得ること。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus, which can specify inspection object areas by bodies to be inspected and perform visual inspections suitable for the bodies to be inspected as an outward appearance inspecting device which inspects the visual appearance of a body to be inspected, such as a semiconductor wafer and a liquid crystal substrate through the use of its image.例文帳に追加

半導体ウエハや液晶基板などの被検体の画像を用いて被検体の外観検査を行う外観検査装置に関し、検査対象領域を被検体毎に指定し、被検体に適した外観検査が行える外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁