X-ray diffraction patternsとは 意味・読み方・使い方

The crystal forms are four kinds of new crystal forms except known crystal forms, and are defined by the main peaks of powder X-ray diffraction patterns, respectively, obtained with copper K-alpha 1X ray (wavelength: 1.54056 angstrom).例文帳に追加

既知の結晶形態以外の４種の新規結晶形態であり、銅Ｋ−アルファ１Ｘ線（波長１．５４０５６オングストローム）を用いて得られる粉末Ｘ線回折パターンの主要ピークによって各々定義される。 - 特許庁

To provide an X-ray diffracting apparatus for appropriately discriminating diffraction patterns from a plurality of crystals which are necessary for analyzing the crystalline structure of a sample.例文帳に追加

本発明は試料の結晶構造を解析するのに必要な、複数の結晶からの回折パターンを適切に識別するＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample fixing method and a sample fixing implement for acquiring X-ray diffraction patterns of foil-like samples without being affected by a matter except the foil-like samples.例文帳に追加

箔状サンプル以外の物による影響を受けること無く、箔状サンプルのＸ線回折パターンを得る試料固定方法および試料固定具を提供する。 - 特許庁

The X-ray diffraction patterns (lattice spacing d/A) are as follows: 13.2±0.6, 12.3±0.3, 11.0±0.3, 9.0±0.3, 6.8±0.3, 3.9±0.2, 3.5±0.1, 3.4±0.1.例文帳に追加

Ｘ線回折パターン （格子面間隔ｄ／Å） １３．２±０．６ １２．３±０．３ １１．０±０．３ ９．０±０．３ ６．８±０．３ ３．９±０．２ ３．５±０．１ ３．４±０．１ - 特許庁

To provide a new method for producing such an alkaline earth thioaluminate-based fluorescent compound that only the diffraction pattern of a perfect alkaline earth thioaluminate compound is detected and no other substances' diffraction patterns are recognized in the X-ray diffractometry.例文帳に追加

Ｘ線回折分析において完全なアルカリ土類チオアルミネート化合物の回折パターンのみ検出され、他の物質の回折パターンが認められないアルカリ土類チオアルミネート系蛍光体化合物の新規な製造法を提供する。 - 特許庁

The α-type crystal, γ-type crystal and δ-type crystal of N-benzyl-N-ethyl-2-(7-methyl-8-oxo-2-phenyl-7,8-dihydro-9H-purin-9-yl)acetamide, having excellent thermal stability, characterized by powder X-ray diffraction patterns and/or differential scanning calorimetric analysis thermogram.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折パターンおよび／または示差走査熱量分析サーモグラムで特徴付けられ、優れた熱安定性を有する、Ｎ−ベンジル−Ｎ−エチル−２−（７−メチル−８−オキソ−２−フェニル−７,８−ジヒドロ−９Ｈ−プリン−９−イル）アセトアミドのα型結晶、γ型結晶およびδ型結晶。 - 特許庁

The niobium oxide in which diffraction intensity ratio in X-ray diffraction patterns is in a specific range and average particle size is 3 μm or less is used as the positive active material, a silicon oxide in which an atomic ratio of lithium and oxygen is specified is used as a negative active material, and heat resistant resin such as a liquid crystal polymer is used in a gasket.例文帳に追加

Ｘ線回折パターンの回折強度比が特定の範囲であり平均粒径が３ミクロン以下のニオブ酸化物を正極活物質とし、負極活物質にリチウムとシリコンと酸素の原子比を特定したＳｉ酸化物を用い、ガスケットとして液晶ポリマー等の耐熱性樹脂を用いる。 - 特許庁