appearance testerとは 意味・読み方・使い方

Hereby, this can inspect the interval between the chips, in a wire-bonding process, without using a separate exclusive external appearance tester.例文帳に追加

これにより、別途専用の外観検査装置を用いることなくチップ相互の間隔を、ワイヤボンディング工程において検査することができる。 - 特許庁

After a wafer W is placed on a θ stage 21 arranged on an input side of a probing tester 3 to perform positioning the wafer W and the external appearance test of each semiconductor chip, this wafer W is placed on the probing tester 3 to perform the probing test.例文帳に追加

プロービングテスト装置３の入側に配置されたθステージ２１にウエハＷを載せて、このウエハＷの位置決めと各半導体チップの外観検査を行った後に、このウエハＷをプロービングテスト装置３に設置してプロービングテストを行う。 - 特許庁

To provide a production process of a two-color molding, the two-color molding made thereby and a tester with a color sample using the same; wherein the molding gate mark is not conspicuous, has good usability and beautiful appearance.例文帳に追加

ゲート跡が目立たず、使い勝手のよい美麗な外観の二色成形体の製法と、それによって得られる二色成形体、並びにそれを用いた色見本付きテスターを提供する。 - 特許庁

To provide a wire bonder and a wire-bonding method, which can inspect the interval between chips without needing a separated exclusive eternal appearance tester.例文帳に追加

別途専用の外観検査装置を必要とせずにチップ間隔を検査できるワイヤボンディング装置およびワイヤボンディング方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

This textile comprises a combined differentially-shrinkable polyester multifilament yarn treated with soft twist of ≤8,000 twist multiplier and containing a phosphorus compound and has ≥3.5 pilling grade according to JIS-L-1076 after 20 times appearance retention treatment of C-method defined in the JIS and, thereafter, continuously treated with the ICI tester of A-method defined in the JIS for 5 h.例文帳に追加

撚係数８０００以下の甘撚が施された燐化合物を含有するポリエステルマルチフィラメント異収縮混繊糸から構成された織編物であって、ＪＩＳ−Ｌ−１０７６に記載されるＣ法：アピアランスリテンション２０回操作後、続けてＡ法：ＩＣＩ型試験機を５時間、連続操作させた時のピリング判定が３．５級以上である。 - 特許庁