applied voltage for testingとは 意味・読み方・使い方

To provide an electrostatic charge testing device for clarifying the relation between the voltage value applied from the outside, and the amount of electrostatic charge.例文帳に追加

外部から印加した電圧値と静電気帯電量との関係を明確にする静電気帯電試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a degrading acceleration testing device and a degrading acceleration testing method for photoreceptors for electronic photography that allow control, as desired, of a voltage applied to an electrifying means and the concentration of a discharge product independently of each other in a degrading test.例文帳に追加

劣化試験時の帯電手段への印加電圧と放電生成物の濃度とを独立して任意に制御することが可能な電子写真用感光体の劣化加速試験装置及び劣化加速試験方法を提供する。 - 特許庁

To make application of a high voltage caused by an accumulated charge preventable easily and surely in a testing device, when applied, for example, to a semiconductor testing device used for a test of various characteristics of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路の各種特性の試験に供する半導体試験装置に適用して、蓄積電荷による高電圧の印加を簡易かつ確実に防止することができるようにする。 - 特許庁

The test voltage 32 for testing the reliability of defect recognition at a predetermined level, duration, and frequency is applied to a fixed spark gap, and the pulse driving test voltages are generated by the high voltage generator 30 of the discharge tester.例文帳に追加

所定のレベルと持続時間と周波数での欠陥認識の信頼性を試験する試験電圧３２を固定スパークギャップに印加し、これらのパルス駆動試験電圧を放電試験器の高電圧発生器３０により生成する。 - 特許庁

The testing device includes a test signal supply circuit 20, a comparison circuit 30 for comparing an output signal output from the output terminal with a reference voltage, a reference voltage setting part 40 for setting the reference voltage at a voltage of a high level side or a low level side, and a load voltage supply circuit 50 for supplying a load voltage to the output signal when the control signal is applied.例文帳に追加

試験装置は、テスト信号供給回路２０と、出力端子から出力された出力信号と基準電圧とを比較する比較回路３０と、基準電圧をハイレベル側またはローレベル側の電圧に設定する基準電圧設定部４０と、制御信号が印加されたとき、出力信号に負荷電圧を供給する負荷電圧供給回路５０とを有する。 - 特許庁

The discharge measurement for impulse testing includes: a discharge detection sensor 2 for detecting a discharge signal occurring in the impulse testing; and a signal deciding part 5 for deciding that the in-oil development discharge occurs by a pulse detected with the discharge detection sensor 2 in a prescribed period after an impulse testing voltage is applied on the power equipment 1.例文帳に追加

この発明に係るインパルス試験用放電計測装置は、インパルス試験時に発生した放電信号を検出する放電検出センサ２と、電力機器１にインパルス試験電圧が印加された後の所定期間内に放電検出センサ２で検出されたパルスにより油中進展放電が発生したことを判定する信号判定部５とを備えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a test system for improving the stability in test quality by self-compensating the noise superimposed on a voltage applied to a device under test.例文帳に追加

半導体試験装置及びテストシステムに関し、被試験デバイスに印加する電圧に重畳されるノイズを自己補償して試験品質の安定性を向上する。 - 特許庁