atomic irradiationとは 意味・読み方・使い方

In a forming process for forming an electron-emitting part 2, a current-carrying treatment is executed, while uniformly reducing a conductive film 3 under irradiation of atomic form hydrogen or under the atmosphere of atomic hydrogen.例文帳に追加

電子放出部２を形成するフォーミング工程において、原子状水素を照射または原子状水素の雰囲気下で導電性膜３を一様に還元させながら通電処理を行うことを特徴とする。 - 特許庁

The method includes a step of irradiating the sample with a neutral atomic beam or ion beam, and a step of irradiating the sample with radiation after the irradiation of the sample with the neutral atomic beam or ion beam and analyzing the electrons from the sample.例文帳に追加

試料に中性原子線又はイオン線を照射する過程と、中性原子線又はイオン線の照射後に、試料に対して放射線を照射し、試料からの電子を分析する過程とを含む。 - 特許庁

The method for forming various kinds of semiconductor thin films includes irradiating the substrate simultaneously with a semiconductor molecule beam evaporated from the vapor deposition unit 5, and the atomic beam emitted from the gas dissociation irradiation unit 6.例文帳に追加

蒸着装置５より蒸発した半導体分子ビームと、気体解離照射装置６より射出した原子ビームを、基板上に、同時に照射することによって多種類の半導体薄膜を作製する。 - 特許庁

This invention relates to the fine pattern forming material which is provided on the surface side of a substrate, and in which holes are formed by melting according to the irradiation of laser light, and which is composed of an In alloy containing 30 to 60 atomic% Co.例文帳に追加

基板の表面側に設けられ、レーザー光の照射によって溶融することで穴が形成される微細パターン形成材料であって、Ｃｏを３０〜６０原子％含有するＩｎ合金からなる。 - 特許庁

Accordingly, a window 10 formed of the material having the atomic number smaller than metal is used for the emitting port of the electron beam, whereby the distribution of an electron beam irradiation device minimized in energy loss can be realized.例文帳に追加

従って金属よりも原子番号の小さい物質からなる窓１０を電子線の出射口に用いることによりエネルギー損失の少ない電子線照射装置の提供を実現できる。 - 特許庁

Otherwise, the foreign substance P is irradiated with an electron beam to deposit a solid material on the foreign substance P in a deposition gas atmosphere in which the solid material is generated by irradiation with the electron beam, and a force by the probe of an AFM (atomic force microscope) is applied to the solid material.例文帳に追加

又は、電子ビームが照射されることにより固体材料が生成されるデポジションガス雰囲気中において、異物Ｐに電子ビームを照射して異物Ｐ上に固体材料を堆積させ、この固体材料に対してＡＦＭの探針により力を印加する。 - 特許庁

To evaluate the remaining life of equipment based on actualy measured values from the viewpoint of soundness maintenance of the incore equipment in an atomic power plant or the like by sampling a material exposed to neutron irradiation of the nuclear reactor incore equipment as a test piece corresponding to evaluation object portion, operation period, test method or the like in the minimum range wherein a structural material function is not lost.例文帳に追加

原子炉炉内機器の中性子照射を受けた材料を評価対象部位、運転期間、試験方法等に対応して、かつ構造材の機能を失わない最小限度の範囲で試験片としてサンプリングし、原子力プラントなどの炉内機器の健全性維持の面から機器の余寿命を実測値に基づいて評価する。 - 特許庁