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cross breakingとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 曲げ
「cross breaking」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
A centrifugal sirocco fan or a breaking-through cross flow fan is used as a fan.例文帳に追加
送風機としては遠心式のシロッコファンまたは貫流式のクロスフローファンが使用される。 - 特許庁
To provide an excimer lamp capable of preventing breaking of a discharge container, caused by breaking of an edge part, in an excimer lamp equipped with the discharge container formed with a tube with a rectangular cross section.例文帳に追加
断面矩形状の管が形成された放電容器を備えたエキシマランプにおいて、エッジ部が破損の起点となって放電容器が破裂することを防止できるエキシマランプを提供することを目的とする。 - 特許庁
The residual life of the metal material can be estimated from effective stress calculated from an effective cross section and a creep breaking curve.例文帳に追加
余寿命は、有効断面積から求めた有効応力とクリープ破断曲線とにより推定することができる。 - 特許庁
To surely separate a suspension cross member by breaking a connection arm in case of collision without decreasing primary strength.例文帳に追加
本来の強度を低下させることなく、衝突時には連結アームを破断させることによって、サスペンションクロスメンバを確実に離脱させる。 - 特許庁
To provide a tube having an improved breaking load or the like by providing the tube with parts having different thicknesses and thus increasing cross section of the tube.例文帳に追加
肉厚の異なる部位を含ませ、これによってチューブの断面積を増加させ、破断荷重等を向上させたチューブを提供する。 - 特許庁
The load, which is calculated by adding the multiplication results of the residual areas and flow stresses related to different kinds of the respective materials on a crack-containing cross section to each other with respect to all of the materials on the cross section, is set as breaking load.例文帳に追加
き裂を含む断面上の異種材料それぞれについての残余面積と流動応力とを掛け合わせた結果を断面上のすべての材料について足し合わせることにより求めた荷重を破壊荷重とする。 - 特許庁
When breaking is performed as above while generating bending and tearing at the same time, no cullet is generated since broken cross-sections of the material are not mutually rubbed, and in conjunction with the characteristics of laser scribing, the high quality breaking dispensing with the after-process can be realized.例文帳に追加
このように、曲げと引き裂きを同時に発生させつつブレークを行うと、材料の割断面は相互に擦れあうことがないのでカレットが発生せず、レーザスクライブの特性とあいまって後工程を不要とする高品質の割断が実現できる。 - 特許庁
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「cross breaking」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
To provide a jig for easily and simply preparing a cross section, even if it is minute and trace in quantities, by reducing the damage or physical modification at preparation of a cross section observing sample by a freeze breaking method, with respect to a film-like or sheet-like observation target.例文帳に追加
フィルムやシート状の観察用対象物について、凍結破断法による断面観察用試料作成時における損傷や物理的変性を軽減し、容易かつ簡便に、微小、微量であっても断面作成が可能な冶具を提供する。 - 特許庁
To provide a device for processing and observing a microscopic sample and a method for processing and observing the same, whereby the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross-section can be performed with high resolution, high precision and high throughput from various directions from horizontality to verticality without breaking a wafer used as a sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a trace sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without having to breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方角からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method for observing the processing of a minute sample where the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction can be performed with a high resolution, high precision and high throughput, without breaking a wafer being the sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
After a film is peeled from a capacitor precursor 10 covered with a holding film 4 so as to observe the cross-sectional structure of the capacitor precursor 10 provided on the film, a cross section D is exposed by breaking the capacitor precursor 10, along with the holding film 4.例文帳に追加
フィルム上に設けられたコンデンサ前駆体１０の断面構造を観察するために、保持膜４により覆われたコンデンサ前駆体１０からフィルムを剥離したのち、その保持膜４と共にコンデンサ前駆体１０を破断することにより断面Ｄを露出させる。 - 特許庁
To provide a minute sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
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