cross-section observationとは 意味・読み方・使い方

METAL CUTTING METHOD AND METHOD FOR PREPARING CROSS SECTION SAMPLE FOR MICROSCOPIC OBSERVATION例文帳に追加

金属の切断方法及び顕微鏡観察用断面試料作製方法 - 特許庁

To perform cross-sectional processing observation which enables observing a cross-section of an observation object structure, including a sample having a periodic structure.例文帳に追加

周期構造を有する試料でも観察対象の構造の断面を観察可能な断面加工観察を図ること。 - 特許庁

Furthermore, after the cross section of the specific place of the semiconductor device is observed by the scanning microscope, the protective film of the amorphous structure is provided on the observation cross section in an observation sample formed in order to observe the same observation cross section by the transmission electron microscope.例文帳に追加

更に、半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察した後、同一観察断面を透過型電子顕微鏡で観察すべく作製される観察試料において、前記観察断面上に非晶質構造の保護膜を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a sample observation method and sample observation apparatus capable of observing the cross section of a sample over a broad range, using a simple method.例文帳に追加

簡便な方法で試料の断面を広範囲に観察することができる試料観察方法及び試料観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a sample piece for cross-sectional observation for observing the cross section of a sample by placing the focus on the desired region of the sample.例文帳に追加

試料の所望の領域に焦点をあてて断面観察することが可能となる断面観察用試料片の作製方法を提供すること。 - 特許庁

In this cross section polishing method suitable for cross section observation near the outermost layer of the sample, after forming a metal deposition layer on the sample surface, a metal plating layer is formed, and then cross section polishing is performed.例文帳に追加

試料の最表層近傍の断面観察に適した断面研磨方法であって、試料表面に金属蒸着層を形成した後金属めっき層を形成し、しかる後、断面研磨を行う。 - 特許庁

To provide a cross section processing method by which the cross section of a sample with an organic substance formed on the surface can be obtained in proper precision, and to provide a manufacturing method of a cross section observation sample.例文帳に追加

表面に有機物が形成されている試料の断面を精度よく得ることができる断面加工方法及び断面観察試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device capable of producing a good cross section for observation having little streak and improving throughput, and a method of processing and observing a test piece which allows production of a good cross section of observation and provide a correct observation image.例文帳に追加

筋引きの少ない良好な観察用断面を作製することができるとともに、スループットを向上させることが可能な集束イオンビーム装置、及び、良好な観察用断面を作製して、正確な観察像を得ることができる試料の断面加工・観察方法を提供する。 - 特許庁