defect measuresとは 意味・読み方・使い方

The frequency-based measures are used to detect defect regions on the hard disc and/or classify defect regions as being due to either thermal asperity (TA) or drop-out medium defect (MD).例文帳に追加

この周波数に基づく評価量は、ハードディスク上の欠陥領域を検出し、かつ／または、欠陥領域を熱凹凸（ＴＡ）もしくはドロップアウト・媒体欠陥（ＭＤ）のいずれかの原因に分類するのに使用される。 - 特許庁

When a defect (for example, operational defect of a starter 2 or the defect of a belt 5 leading to the breakage of the belt) is detected in this system, an economical running ECU performs the measures against these defects as follows.例文帳に追加

エコランＥＣＵは、本システムに異常（例えばスタータ２の作動異常、あるいはベルト切れに至る様なベルト５の異常等）が検出されると、その異常発生に対する以下の処置を実行する。 - 特許庁

The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect.例文帳に追加

検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。 - 特許庁

The measurement part 48 measures and detects the current and voltage of the coil of the disconnection defect detection sensor 24.例文帳に追加

計測部４８は、断線不良検出センサ２４のコイルの電流及び電圧を計測して検出する。 - 特許庁

The processing device is automatically controlled based on the defect prevention measures to improve the factors prior to production.例文帳に追加

不良発生未然防止策に基づいて加工装置を自動的に制御して要因を改善してから生産をする。 - 特許庁

The processing device is manually processed based on the defect prevention measures to improve the factors causing failures prior to production.例文帳に追加

不良発生未然防止策に基づいて加工装置を人為的に処理して不良発生の原因となる要因を改善してから生産をする。 - 特許庁

In a hard-disc drive, a defect region on the hard disc is classified as corresponding to either thermal asperity (TA) or media defect (MD) by generating two statistical measures.例文帳に追加

ハードディスクドライブにおいて、２つの統計的基準を生成することによって、ハードディスク上の欠陥領域がサーマル・アスペリティ（ＴＡ）または媒体欠陥（ＭＤ）のどちらに対応するかを分類する。 - 特許庁

The inspection device for the solar cell includes an IV measurement unit which measures current-voltage characteristics of the solar cell as a body to be measured and a defect inspection unit which inspects a defect of the solar cell.例文帳に追加

本発明の太陽電池セルの検査装置は、被測定物となる太陽電池セルの電流電圧特性を測定するＩＶ測定部と、前記太陽電池セルの欠陥を検査する欠陥検査部を有する構成とした。 - 特許庁