device failuresとは 意味・読み方・使い方

To grow a thick contact layer, without bringing on characteristic failures or reliability failures of a semiconductor laser device.例文帳に追加

半導体レーザ素子の特性不良や信頼性不良を招くことなく、厚いコンタクト層を成長させる。 - 特許庁

To provide a switch device to be inserted into a DC power supply path and hard to cause contact failures and opening failures.例文帳に追加

直流電力の供給路に挿入されながらも、接点の接触不良や開離不良が発生しにくいスイッチ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for detecting failures in which smooth exhaust of inner substances is not disturbed and exhaust of various inner substances can be detected and the failures of a storage battery mechanism can be precisely detected.例文帳に追加

内容物のスムーズな排出を阻害することなく、各種内容物の排出を検出して、蓄電機構の異常を精度よく検出する。 - 特許庁

To provide an engine control device capable of detecting a plurality of failures without increasing a quantity of data communication even when the failures occur.例文帳に追加

通信データ量を増やすことなく、複数の故障が発生した場合でも、複数故障を検出することができるエンジン制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of reducing transistor failures caused by opening nanowires, or failures caused by leakage.例文帳に追加

ナノワイヤーのオープンにより生じるトランジスタの不良やリークにより生じる不良を低減させることのできる半導体装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can detect not only failures in a memory but also failures in paths and data processing sections connected to the memory.例文帳に追加

メモリの故障だけでなく当該メモリに接続されたパス及びデータ処理部の故障も検出可能な半導体装置を提供すること。 - 特許庁

In addition, a reliability subsystem 14 includes components capable of performing recording processing of history of messages, detection processing of failures, notification processing of the failures to an external device and restoration processing from the failures, respectively.例文帳に追加

また、信頼性サブシステム１４は、メッセージの履歴の記録処理、障害の検出処理、前記障害の外部装置への通知処理および前記障害からの回復処理をそれぞれ実行可能な構成要素を含んでいる。 - 特許庁

To provide a screening method and a screening device for integrated circuit devices capable of detecting failures in the integrated circuit devices prior to the actualization of failures and removing initial failures in a short time.例文帳に追加

故障が顕在化する前に集積回路装置の故障を検出可能にすると共に、初期不良を短時間で除去することができる集積回路装置のスクリーニング方法及び装置を提供する。 - 特許庁