electron beam testerとは 意味・読み方・使い方

METHOD FOR MEASURING CONTAMINATION OF SAMPLE IN ELECTRON BEAM TESTER例文帳に追加

電子ビーム検査装置の試料汚染測定方法 - 特許庁

To provide an electron beam tester capable of easily setting a slice level, and a setting method of the electron beam tester.例文帳に追加

スライスレベルを容易に設定することのできる電子ビームテスタ及び電子ビームテスタの設定方法を提供すること。 - 特許庁

ELECTRON-BEAM TESTER, RECORDING MEDIUM, AND SIGNAL- INFORMATION SENSING METHOD例文帳に追加

電子ビームテスタ、記録媒体、及び信号情報検出方法 - 特許庁

To provide a layout designing apparatus for a semiconductor integrated circuit which makes it possible to observe a desired signal line by using an electron beam tester.例文帳に追加

電子ビームテスタを用いた所望の信号線の観測を可能とする半導体集積回路のレイアウト設計装置を提供する。 - 特許庁

The device interface unit for electron beam tester is divided into two units 51, 52, thereby reducing the weight to be carried by hand.例文帳に追加

電子ビームテスタ用のデバイスインタフェースユニットを２つのユニット５１，５２に分割することにより、手で持ち運び可能な重量とする。 - 特許庁

To provide a device which automates a means that adjusts the light ness and contrast of a display device, when an acquired secondary electron image is displayed on the display device for improving the efficiency and speed of failure analysis, etc., using an electron beam tester.例文帳に追加

電子ビームテスタを用いた不良解析等を効率化、高速化するため、２次電子像の取得においてディスプレイ装置における明度・コントラストを調整する手段を自動化する装置を提供する。 - 特許庁

A lightness adjusting means 110 draws the initial value of a lightness control value, based on the contents of electric control supplied from an LSI tester 101 to a semiconductor element 106 to be tested and image observing conditions drawn from the contents of control supplied from an electron beam system control means 108 to an electron beam system (a electron beam generating source 104 and a secondary electron detector 105).例文帳に追加

明度調整手段１１０は、ＬＳＩテスタ１０１から被試験半導体素子１０６へ供給される電気的制御内容と、電子ビーム系制御手段１０８から電子ビーム系（電子ビーム発生源104、2次電子検出器１０５）への制御内容から導出される像観測条件とに、基づき明度の制御値の初期値を導出する。 - 特許庁

To provide an electron beam tester capable of testing an electric component with a simple structure and accurately positioning it in a short time in measuring a voltage waveform, and a test method for it.例文帳に追加

簡易な構成で電気部品の試験を行うことのできる、また、電圧波形測定における位置決めを正確且つ短時間で行うことのできる電子ビームテスタ及び試験方法を提供する。 - 特許庁