electron prismとは 意味・読み方・使い方

PRISM ARRAY IMPROVED FOR ELECTRON BEAM INSPECTION AND SCRUTINY OF DEFECT例文帳に追加

電子ビーム検査および欠陥の精査のための改善されたプリズムアレイ - 特許庁

The focusing distance of an electron prism can be corrected by the use of a quadrupole lens.発音を聞く 例文帳に追加

電子線プリズムのフォーカス距離は、四極子レンズを使うことによって補正できる。 - 科学技術論文動詞集

To provide a magnetic prism array improved for use for an electron beam inspection device or the like.例文帳に追加

電子ビーム検査装置等に使用するための改善された磁気プリズムアレイを提供すること。 - 特許庁

An electron beam prism 3, a dispersion angle amplification lens 6 and aperture 8 are provided between an electron gun 2 and an observation sample 11, the energy dispersion of electron beam orbit occurs by the prism, dispersion angle is amplified by the dispersion angle amplification lens, and only an electron beam passing through the aperture provided next to the dispersion angle amplification lens is used, thereby preparing a microscopic image of the observation sample.例文帳に追加

電子銃２と観察用試料１１との間に電子線用プリズム３と分散角増幅用レンズ６とアパーチャ８とを設け、該プリズムによって電子線軌道のエネルギー分散を発生させ、分散角増幅用レンズによって分散角を増幅し、その後ろに設けたアパーチャを通り抜ける電子線のみを使って観察用試料の顕微鏡像を作成する。 - 特許庁

METHOD OF FORMING TENSIONED AERIAL WIRING, CHARGED PARTICLE BEAM PRISM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, OBSERVING METHOD USING INTERFERENCE FRINGE OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF FORMING INTERFERENCE FRINGE IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

緊張化した空中配線の形成方法、荷電粒子線プリズムとその製造方法、荷電粒子線の干渉縞を用いた観察方法、電子顕微鏡および電子顕微鏡における干渉縞の形成方法 - 特許庁

Generated electrons 8 from a sample 6 are passed through an objective lens 7, an electromagnetic prism 3 as an optical path switching means, and an image-forming electron-optical system 9 projected on an MCP detector 10 and photoelectrically converted.例文帳に追加

試料６からの発生電子８は、カソードレンズ７、光路切換手段である電磁プリズム３、結像電子光学系９を通して、ＭＣＰ検出器１０上に投影され、光電変換される。 - 特許庁

In addition to a basic electron microscope, this device comprises means for inputting a required space resolution in a holography observation, a calculating device for calculating an electron beam bi-prism and a specimen position for realizing a required space resolution from an input value and a parameter unique to the device, and a mechanism for moving these two positions for realizing the found calculation results.例文帳に追加

基本的な電子顕微鏡本体に加え、ホログラフィ観察において要求する空間分解能を入力する手段と、入力された値及び装置固有のパラメータから要求された空間分解能を実現する電子線バイプリズム及び試料位置を算出するための計算装置及び、得られた計算結果を実現するためのこれら二つの位置を移動させる機構を設ける。 - 特許庁