flexibility testとは 意味・読み方・使い方

To provide a test cartridge and an analytical system enhanced in flexibility and versatility in execution of an analytical test.例文帳に追加

分析試験の実施における柔軟性及び多様性を高めることを追求して改良された、こうしたテスト・カートリッジ及び分析システムを提供すること - 特許庁

The thus obtained tape has tensile strength of ≥10.3 MPa, elongation of ≥60%, and a heat deformation ratio of ≤50%, and passes a flame retardance test and a flexibility test in accordance with the testing methods regulated in UL 510.例文帳に追加

これによりＵＬ５１０に規定する試験方法により、引張強度１０．３ＭＰａ以上、伸び６０％以上、加熱変形率５０％以下であり、難燃性試験に合格し、柔軟性試験に合格する。 - 特許庁

To increase the flexibility of test runs or test drives in a method of testing a vehicle or its partial system on a test bench or in a vehicle experiment, where interfaces to transmit force and torque are at least partially present in reality.例文帳に追加

テストベンチ上でまたは車両実験において、車両またはその部分システムをテストする方法であって、力伝達を行いかつトルク伝達を行うインターフェースが、少なくとも部分的に現実に存在する前記方法において、テスト走行またはテスト運転の柔軟性をさらに向上させる。 - 特許庁

To provide a pile loading test method and its loading test device capable of being tested by using a testing pile in a state to make it possible to actually use, simplifying the constitution, extending the flexibility of the test and contributing to shortening of the testing process and reduction of costs.例文帳に追加

実際に使用される状態の試験杭を用いて試験することができ、構成が簡単で、試験の自由度を広げることができ、更には試験工程の短縮及びコストの削減に寄与する杭の載荷試験方法及び載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can greatly shorten test time required for tests by enabling measurement of three or more signals simultaneously and by greatly increasing the number of devices under test (DUT) which can be tested simultaneously, and can largely improve flexibility in the allocation of DUT pins.例文帳に追加

３信号以上の同時測定を可能にするとともに同時試験可能なＤＵＴの数を大幅に向上させることで試験に要する時間を大幅に短縮することができ、更にはＤＵＴのピンの割り付けの自由度を大幅に向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of concurrently generating an expectation value pattern and a determination mask pattern using pattern data stored in a pattern memory, thereby enhancing the flexibility in creating a test program and the efficiency of test.例文帳に追加

パターンメモリに記憶されたパターンデータを用いて期待値パターンと判定マスクパターンとを同時に生成することができ、これにより試験プログラム作成の自由度及び試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The test socket for semiconductor device is provided with a connection sheet 2 comprising an elastically deformable insulating member and electrodes 202 and connecting a test probe 1 electrically with external connection terminals 14a in order to ensure good electrical contact through flexibility.例文帳に追加

半導体装置のテスト用ソケットに、テスト用プローブ１と、前記半導体装置の外部接続端子１４ａとを電気的に接続させる、弾性変形する絶縁部材と電極２０２からなる接続シート２を備えることにより、可撓性を持たせて良好な電気的接触を得るようにした。 - 特許庁

Since the cylinder 14 inside is not opened to the atmosphere, a through-hole is not required in a pressure vessel 12, and the test tool 13 takes an independent form of the pressure vessel 12, to thereby improve flexibility of the quantity, the installation position or the size of the test tool 13 to be stored in the pressure vessel 12.例文帳に追加

シリンダー１４内部を大気開放しないので、圧力容器１２に貫通孔が不要となり、試験具１３は圧力容器１２から独立した形態となるため、圧力容器１２内に収容する試験具１３の数量や設置位置や寸法の自由度が向上する。 - 特許庁