incident particleとは 意味・読み方・使い方

A charged particle beam incident to a sample is set to be an inclined angle equivalent to the right/left disparity angle.例文帳に追加

試料に入射する荷電粒子線を左右視差角分に相当する傾斜角に設定する。 - 特許庁

To provide a diaphragm for a charged particle beam device which can control the temperature of the diaphragm low, and by which vignetting of the charged particle beam incident obliquely is small.例文帳に追加

絞りの温度を低く抑えることができ、斜入射の荷電粒子線の蹴られの少ない荷電粒子線装置用の絞りを提供する。 - 特許庁

To measure the shape of charged particle beams with high accuracy by hindering the charged particle beams scattered at an edge part, from being incident to a detector.例文帳に追加

エッジ部分で散乱した荷電粒子ビームが検出器に入射するのを阻止して、高精度に荷電粒子ビームの形状測定をする。 - 特許庁

When an incident charged particle beam 1 is incident on the scattering aperture 4, a part of the beam on the holes 4B passes through as a passed charged particle beam 2, and the other part of the beam on the substrate part 4A is scattered to become a scattered charged particle beam 2'.例文帳に追加

散乱アパーチャー４に入射荷電粒子線１が入射すると、そのうち、孔４Ｂの部分にあたったものは通りぬけて、透過荷電粒子線２として直進するが、それ以外の基板部４Ａに当たったものは、散乱されて散乱荷電粒子線２’となる。 - 特許庁

To provide a wavelength conversion particle capable of further improving incident efficiency of excited light into a fluorescent particle, and further improving extraction efficiency of converted light from the fluorescent particle.例文帳に追加

蛍光体粒子への励起光の入射効率のより一層の向上および蛍光体粒子からの変換光の取り出し効率のより一層の向上を図れる波長変換粒子を提供する。 - 特許庁

To provide a coated fluorescent substance particle capable of further improving incident efficiency of exciting light into a fluorescent particle and luminous efficiency of the fluorescent particle by a simple configuration.例文帳に追加

蛍光体粒子への励起光の入射効率のより一層の向上および蛍光体粒子の発光効率のより一層の向上を、簡易な構成により図ることができる被覆蛍光体粒子を提供する。 - 特許庁

The charged particle spin polarimeter has a pair of convex and concave magnetic poles for applying a magnetic field with gradient to an incident charged particle and a pair of flat plate electrodes to apply an electric field to a charged particle to cancel the Lorentz force that the charged particle receives from the magnetic field.例文帳に追加

荷電粒子スピン検出器は、勾配を有する磁場を入射荷電粒子に対して印加するための一対の凸凹磁極201、202と、荷電粒子が磁場から受けるローレンツ力をキャンセルする電場を荷電粒子に印加する、一対の平板電極203とを装備する。 - 特許庁

PLASMA SOURCE, HIGH FREQUENCY ION SOURCE USING IT, NEGATIVE ION SOURCE, ION BEAM PROCESSOR, NEUTRAL PARTICLE BEAM INCIDENT DEVICE FOR NUCLEAR FUSION例文帳に追加

プラズマ源，それを用いた高周波イオン源，負イオン源，イオンビーム処理装置，核融合用中性粒子ビーム入射装置 - 特許庁