inspecting orderとは 意味・読み方・使い方

(iv) The Requestor made the request in order to report facts to third parties for profit, knowledge of which may be acquired by inspecting or copying the shareholder registry; or発音を聞く 例文帳に追加

四　請求者が株主名簿の閲覧又は謄写によって知り得た事実を利益を得て第三者に通報するため請求を行ったとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The inspection instrument for inspecting the adhesion of the honeycomb core and the skin is especially designed, in order to carry out the inspection method.例文帳に追加

ハニカムコアおよびスキンの間の接着の検査のための前記器具は、上述の検査方法を実施するために特に設計される。 - 特許庁

To provide an inspecting device which can accurately and easily inspect asymmetrical aberrations of high order remaining in the optical system.例文帳に追加

光学系に残存する高次の非対称収差を正確に且つ簡易に検査することのできる検査装置。 - 特許庁

To improve inspecting efficiency by sharing a device between ordinary lighting inspection and simple lighting inspection in order to decrease exchange frequency of components.例文帳に追加

通常点灯検査と簡易点灯検査とで装置の共有化を図って部品の交換頻度を低減して、検査効率を向上させる。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting a multi-core optical fiber, which can simply and verify accurately in a time that the input arranging order matches with the output arranging order of the multi-core optical fiber.例文帳に追加

多心光ファイバの入力整列順と出力整列順の一致を時間で簡単にかつ正確に確認する多心光ファイバ検査装置を提供する。 - 特許庁

Each time a sheet of paper is output from the paper output part, an output order inspection process for inspecting that the output paper is stored in the stacker determined by the calculated storing order.例文帳に追加

そして、用紙出力部から出力される用紙毎に、出力された用紙が、算出された収容順序で定められたスタッカに収容されることを検査する出力順序検査処理を行う。 - 特許庁

To provide a simple and low-cost inspecting method of a poor medium in which the thickness of a recording layer separated from a predetermined extent in the manufacturing process of the optical recording medium having at least first dielectric layer, the recording layer, a second dielectric layer, and a reflective layer at this order or inverse order.例文帳に追加

少なくとも第一誘電体層、記録層、第二誘電体層、反射層をこの順又は逆順に有する光記録媒体の製造過程において、記録層の膜厚が所定の範囲から外れた不良媒体の、シンプルかつ低コストな検査方法の提供。 - 特許庁

The inspecting device 17 displays respective patterns corresponding to gradations expressed by a high-order bit and the low-order bit of a video signal for a test pattern recorded in an inner memory 17a on the same screen.例文帳に追加

検査装置１７は、内部メモリ１７ａに記録されたテストーパターン用映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示する。 - 特許庁