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open defectとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 表面欠点
「open defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 54件
In the defect detection, whether the wiring has the defect, the defect position, and the defect kind of a short defect or open defect can be identified.例文帳に追加
欠陥検出は、配線の欠陥の有無、欠陥位置、ショート欠陥かオープン欠陥かの欠陥種の判別が可能である。 - 特許庁
To provide a technique for detecting the minute open defect or short defect in a fine pattern.例文帳に追加
微細パターン中の微小なオープン欠陥やショート欠陥を検出する手法を提供する。 - 特許庁
To prevent a bright defect caused by an alignment defect at an edge part of an open portion of a color filter with the open portion.例文帳に追加
開口部を有するカラーフィルターの開口部端部での配向不良による光抜けを防止すること。 - 特許庁
The open box having the lowest frequency in generation of defect among the selected open boxes or combination thereof is replaced in the piling position of the open box, wherein the defect is generated, to reduce the defect generation ratio.例文帳に追加
選択された無蓋ボックスあるいはその組合せの内、最も不具合発生頻度の低いものと不具合の発生した無蓋ボックスとの積付位置を入れ替えることによって、次回からの不具合発生率を減少させることができる。 - 特許庁
When a quality defect is generated, search in the intellectual database 20 is performed to select an open box having the same volume with the open box, wherein the defect is generated, or a combination of the open boxes.例文帳に追加
品質不具合が発生すると、知的データベース20を検索して品質不具合が発生した無蓋ボックスと同一体積となる無蓋ボックスあるいはその組合せを選択する。 - 特許庁
To prevent a high-resistance defect and an open defect of a via while reducing an element or a wiring arrangement area.例文帳に追加
本発明によれば、素子や配線の配置面積を縮小しつつ、ビアの高抵抗不良およびオープン不良が発生しないようにする。 - 特許庁
To provide an electronic component module for avoiding a shortcircuited defect and an open defect in a mounted chip component.例文帳に追加
搭載チップ部品のショート不良及びオープン不良を回避し得る電子部品モジュールを提供すること。 - 特許庁
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「open defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 54件
To detect an open pin defect even if an input signal is used in common.例文帳に追加
入力信号を共通化した場合でも、オープンピン不良を検出すること。 - 特許庁
To provide a technique that allows a sample surface with an insulation region and a conduction region formed thereon to be observed under high contrast, and that facilitates detection of a deletion defect and an open defect and classification of the defect types.例文帳に追加
絶縁領域と導電領域が形成されている試料面の観察を高コントラストで行い、且つ、欠落欠陥や開放欠陥の検出と欠陥種類の分類を容易なものとする技術を提供すること。 - 特許庁
To automatically discriminate whether a defect is a short (short- circuit), open (disconnection) or the defect of contamination deposition (dust) in the case that the defect is present on a pattern formed on an inspected body surface.例文帳に追加
被検査体表面に形成されたパターンに欠陥が有る場合に、その欠陥がショート(短絡)、オープン(断線)、または異物付着の欠陥(ダスト)であるか否かを自動的に判別すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor device wherein a metallic bump is separated from an inner lead wire in an ILB process resulting in causing an open defect.例文帳に追加
ILB工程において、金属突起とインナーリード配線が引き離されて、オープン不良が発生することを防止する。 - 特許庁
To provide a ground surface antenna device of which the iron lid can be free to open and close, and which is free from the troubles of corrosion and electric contact defect due to rains and mud penetrated in the manhole.例文帳に追加
鉄蓋の開閉に支障を来たさず、しかも、マンホール内に浸入した雨水や泥等による腐食や接触不良の恐れがない。 - 特許庁
To provide a semiconductor device having a highly reliable via connection by preventing an open defect of vias connected to a capacitor, and to provide a manufacturing method thereof.例文帳に追加
キャパシタにつながるビアのオープン不良を防止し、高信頼性のビア接続を有する半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a glass bottle inspection device which can inspect a defect of two or more parts of an open part of the glass bottle with a high speed.例文帳に追加
ガラス瓶の瓶口の複数部位の不良を高速に検査することができるガラス瓶検査装置を提供する。 - 特許庁
To correct open circuit defect of a narrow width wiring pattern conveniently and precisely without damaging a wiring board.例文帳に追加
狭小幅配線パターンの断線欠陥の修正を配線基板にダメージを与えることなく、簡便で精度よく行うこと。 - 特許庁
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