photoelectron microscopeとは 意味・読み方・使い方

MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM MEASURING METHOD, MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE, AND MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

磁気円二色性測定方法、磁気円二色性光電子放出顕微鏡、及び磁気円二色性光電子放出顕微鏡システム - 特許庁

ELECTRON LENS ADJUSTMENT STANDARD FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF PRODUCING THE SAME例文帳に追加

光電子顕微鏡の電子レンズ調整標準及びその製造方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE SPIN POLARIMETER, MICROSCOPE, AND PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY DEVICE例文帳に追加

荷電粒子スピン検出器、顕微鏡、及び光電子分光装置 - 特許庁

To provide a photoelectron microscope, having a light source system for reliably performing a high-resolution measurement, such as work function distribution measurement and magnetic domain distribution measurement, and to provide a high-sensitivity measurement method by the photoelectron microscope.例文帳に追加

仕事関数分布測定や磁気ドメイン分布測定など、高分解能測定を確実に行うための光源システムを備えた光電子顕微鏡、及び、この光電子顕微鏡による高感度測定方法を提供する。 - 特許庁

Even if the main body base 1 thermally deforms or flexes, the detection position of the photoelectron microscope 4 and the fixed reflector 21 are displaced by the same quantity to cancel a detection error of the photoelectron microscope 4.例文帳に追加

本体ベース１の熱変形やたわみが生じても、光電顕微鏡４の検出位置と固定反射鏡２１が等量だけ変位し、光電顕微鏡４の検出誤差を相殺できる。 - 特許庁

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy.例文帳に追加

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。 - 特許庁

To provide a photoelectron emission microscope good in both of time and space resolving powers and generating no discharge.例文帳に追加

時間および空間分解能のいずれも良好で放電の発生しない光電子放出顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

OPTICAL MEASURING DEVICE USING PHOTOELECTRON MULTIPLIER FOR PHOTO ACCEPTANCE UNIT, CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

受光素子に光電子増倍管を用いた光学測定装置、共焦点顕微鏡システム及びコンピュータプログラム - 特許庁