rejectableとは 意味・読み方・使い方

Since steps ST8A and ST10A can be eliminated for a semiconductor chip which has become rejectable during the formation of the transistor layer, the yield of the acceptable product is enhanced.例文帳に追加

この結果、トランジスタ層の製造で不良になった半導体チップはステップST8A,ST10Aを省略することができ、良品歩留が向上する - 特許庁

Fifthly, a rejectable portion is corrected, in correspondence with the determination for rejection at step 4, thus acquiring the coordinate data.例文帳に追加

第５に、上記第４での不良判定に対応して不良部分を補正して上記座標データとして取得する。 - 特許庁

Zener diodes becoming rejectable due to the scattering of wiring materials when zapped in a second inspecting step are removed because diodes rejectable due to leak are removed in a first inspecting step, diodes high in residual resistances after zapping are next removed in a third inspecting step, and unzapped diodes are evaluated for the absence of conductivity in a fourth inspecting step.例文帳に追加

第１の検査工程でツェナーダイオードのリーク不良品を排除した後、第３の検査工程でザッピング後の残留抵抗が大きいものを排除し、第４の検査工程でザッピングしなかったツェナーダイオードの非導通状態を確認するため、第２の検査工程でのザッピング時に配線材料が飛び散って発生する不良品を除去できる。 - 特許庁

To easily simulate X-ray tomography to a faulty soldered part even if a rejectable model indicating a shape fault in solder is not prepared.例文帳に追加

はんだの形状不良を示す不良モデルを準備しなくとも、不良のはんだ付け部位に対するＸ線断層撮影のシミュレーションを容易に行えるようにする。 - 特許庁

To remove rejectable products with high accuracy in a visual inspection process and to lessen the load in a microscopic inspection process following to connection work of a display panel, a TAB substrate and a flexible substrate.例文帳に追加

表示パネル，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板の接続作業後の検査において、目視検査工程で高精度に不良品を排除することができ、顕微鏡検査工程での負荷を軽減する。 - 特許庁

With regard to a component of inspection object, an inspection executing section 107 determines the similarity of an inspection object image for each model by using the acceptable model and the rejectable model corresponding to that component.例文帳に追加

検査実行部１０７は、検査対象の部品について、その部品に対応する良モデルおよび不良モデルを用いて、各モデルに対する検査対象画像の類似度を求める。 - 特許庁

The inspection of transistor is then performed (ST3A) and a transistor in the semiconductor chip determined to be rejectable is replaced by a transistor previously built in the semiconductor chip as a spare by blowing out a fuse (ST7A).例文帳に追加

ここでトランジスタ検査(ST3A)を行い、半導体チップ内で不良と判定されたものはヒューズ切断により予め予備に半導体チップ内に組み込まれていたトランジスタと入れ替えを行う(ST7A)。 - 特許庁

Since data is transferred appropriately from the photolithography systems 10 to the server 61, a trouble can be dealt with quickly upon occurrence and such problems as rejectable products are mass produced continuously, or the like, can be avoided.例文帳に追加

露光装置１０〜サーバー６１へのデータ転送が適切に行われるので、不具合が発生した場合に迅速に対応することができ、不良品を大量に生産しつづける等の問題を回避することができる。 - 特許庁