機械工学英和和英辞典

scanning electron microscope

走査電子顕微鏡

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scanning electron microscope (SEM)

走査型電子顕微鏡

和英河川・水資源用語集

scanning electron microscope

走査電子顕微鏡

学術用語英和対訳集

scanning electron microscope

走査電子顕微鏡; SEM; 走査型電子顕微鏡

JST科学技術用語日英対訳辞書

scanning electron microscope

走査電顕; 走査電子顕微鏡; 走査型電子顕微鏡

英和医学用語集

scanning electron microscope

走査(型)電(子)顕(微鏡)

眼科専門用語辞書

scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡

英和実験動物学用語集

scanning electron microscope

走査（型）電子顕微鏡

ライフサイエンス辞書

scanning electron microscope

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(道具)
走査型電子顕微鏡, 走査電子顕微鏡, ((俗))
走査電顕

関連語

scanning electron microscopy, SEM

同義語（異表記）

Electron Scanning Microscopy

scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡観察

走査型電子顕微鏡法

走査型電子顕微法

走査電顕

走査電子顕微鏡

概念ツリー

診断　Diagnosis

診断技術と手順　Diagnostic Techniques and Procedures

画像診断　Diagnostic Imaging

顕微鏡　Microscopy

電子顕微鏡　Electron Microscopy

走査型電子顕微鏡　Scanning Electron Microscopy

研究技術　Investigative Technique

顕微鏡　Microscopy

電子顕微鏡　Electron Microscopy

走査型電子顕微鏡　Scanning Electron Microscopy

scanning electron microscopeの共起表現

日英・英日専門用語辞書

scanning electron microscope

ＳＥＭ，走査電顕，走査電子顕微鏡，走査形電子顕微鏡，走査型電子顕微鏡

クロスランゲージ 37分野専門語辞書

scanning electron microscope

走査形電子顕微鏡; ＳＥＭ; 走査型電子顕微鏡; SEM; 走査電子顕微鏡

Weblio英和対訳辞書

scanning electron microscope

SEM; 走査型電子顕微鏡

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scanning electron microscope

走査電子顕微鏡

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Scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡

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Wiktionary英語版

scanning electron microscope

出典:『Wiktionary』 (2010/10/22 00:46 UTC 版)

名詞

scanning electron microscope (複数形 scanning electron microscopes)

1. An electron microscope whose image is made up of a matrix of points from scanning the surface of a sample.

派生語

• SEM

関連する語

• electron microscope
• scanning electron microscopy
• transmission electron microscope

ウィキペディア英語版

Scanning electron microscope

出典:『Wikipedia』 (2011/07/06 09:48 UTC 版)

英語による解説

ウィキペディア英語版からの引用

引用

A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that images a sample by scanning it with a high-energy beam of electrons in a raster scan pattern. The electrons interact with the atoms that make up the sample producing signals that contain information about the sample's surface topography, composition, and other properties such as electrical conductivity.