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straightness measurement methodとは 意味・読み方・使い方
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「straightness measurement method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 9件
STRAIGHTNESS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
真直度測定法 - 特許庁
STRAIGHTNESS MEASURING IMPLEMENT OF LONG CYLINDRICAL MEMBER AND MEASUREMENT METHOD THEREOF例文帳に追加
長尺円筒部材の真直度計測治具とその計測方法 - 特許庁
To provide a probe straightness measuring method capable of measuring the straightness of a probe in a practical use environment, without having to separately prepare a sensor for straightness measurement.例文帳に追加
真直度測定用のセンサなどを別途用意しなくても、プローブの真直度を実際の使用環境の中で測定することができるプローブの真直度測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a straightness measuring implement of long cylindrical member and measurement method thereof capable of measuring straightness of long cylindrical member with a high degree of accuracy without implementing scratch for measurement to long cylindrical member over the length of 2 m.例文帳に追加
長さが2mを超える長尺円筒部材に計測用の罫書を施すことなく、長尺円筒部材の真直度を高精度に計測することができる長尺円筒部材の真直度計測治具とその計測方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for precisely measuring the surface shape (straightness) of a measuring object in a nano level, and a surface shape calibrating device used for the measurement.例文帳に追加
被測定物の表面形状(真直度)をナノレベルで精密に測定する方法およびその測定に用いる表面形状校正装置の提供。 - 特許庁
To provide a correction method for straightness precision of measuring machines which enables elimination of the weaknesses of inversion method, and acquisition of high reliability measurement data, without improving the existing apparatuses.例文帳に追加
反転法の欠点を解消でき、かつ、既存の装置を改良することなく信頼性の高い測定データが得られる測定機の真直精度補正方法を提供する。 - 特許庁
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「straightness measurement method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 9件
To realize an accurate offset error calibration method simple in a calibration procedure and capable of using an inexpensive test piece, in straightness measurement using a 2- or 3-point method.例文帳に追加
2、3点法を用いた真直度測定において、校正手続きが簡単で正確なオフッセット誤差校正方法、しかもそこで使用される試験片は安価であることを特徴とするオフッセット誤差校正方法を実現する。 - 特許庁
To provide a method for measuring position of stage capable of preventing the occurrence of measurement error in response to the error fluctuation of straightness of a reflective mirror, accurately measuring positional information of a stage and reducing the time of measurement, and to provide an exposing method, an exposing apparatus and a method of manufacturing a device whereby throughput and treating capacity are improved.例文帳に追加
反射鏡の真直度誤差の変動に対応して、計測不良の発生を抑制し、精度よくステージの位置情報を計測するとともに、計測時間の短縮化を図ることができるステージ位置計測方法、及びスループットの向上や処理能力の向上を図ることができる露光方法、露光装置、並びにデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁
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