t testingとは 意味・読み方・使い方

The jig for testing in-plane shearing has a first holding member 12 for holding a test piece T comprising a sheet material along a predetermined straight line direction and a second holding member 22 for holding the test piece T along the direction parallel to the predetermined straight line direction.例文帳に追加

シート材料からなる試験片Ｔを所定の直線方向に沿って保持する第１の保持部材１２と、前記所定の直線方向と平行する方向に沿って試験片Ｔを保持する第２の保持部材２２とを有する。 - 特許庁

The fixture for the peel strength testing machine 4 used for setting the test piece T, the peel strength testing machine being used for testing the peel strength of a seal part S which is formed by sealing a part of the 2 pieces of the overlapped resin films F, holds each of the 2 pieces of the resin films of the test piece T, which is not sealed, toward outside of the sealed part S.例文帳に追加

重ねた２枚の樹脂製フィルムＦの一部をシールしたシール部Ｓの剥離強度を試験する剥離強度試験機に対して、試験片Ｔをセットするために用いられる剥離強度試験機用治具４であって、試験片Ｔのうちシールされていない２枚の樹脂製フィルムＦを、それぞれシール部Ｓの外側方へ向けて保持する。 - 特許庁

The particle abrasion testing machine of the dust collection filter cloth is constituted of means 1 and 2 for fixing fibers T constituting the dust collection filter cloth under a predetermined tension state and a means 3 for allowing a dust-containing stream to collide with the fibers T under the same condition as an environment using the dust collection filter cloth, thereby measuring the particle abrasion of the fiber T.例文帳に追加

集塵用濾布を構成する繊維Ｔを所定の緊張度で緊張固定させる手段１、２と、この繊維Ｔに対して、集塵用濾布を使用する環境と同じ条件となるよう含塵気流を衝突させる手段３とより構成し、繊維Ｔの粒子摩耗を測定する。 - 特許庁

Laser power Pe for erasure and a defocus amount Δf to a targeted recording layer of an optical head 3 radiating a laser beam are changed to perform testing erasure of data of each recording layer in a testing region T in the multilayer optical disk 1.例文帳に追加

多層光ディスク１内のテスト領域Ｔにおいて、消去用レーザパワーＰｅと、レーザ光を照射する光ヘッド３の目標の記録層に対するデフォーカス量Δｆを変えて、各記録層のデータの試し消去を行う。 - 特許庁

To acquire a highly-accurate measurement result in a tire testing machine having a spindle device 2 for holding rotatably a test tire T and provided with a detector 29 capable of measuring a load generated from the test tire T to the spindle device 2.例文帳に追加

供試タイヤＴを回転自在に保持するスピンドル装置２を有し、このスピンドル装置２に対して供試タイヤＴから発生される荷重を測定可能な検出器２９が設けられたタイヤ試験機において、高精度の測定結果を得ることができるようにする。 - 特許庁

A start condition comprising a day Y of the week, an hour T and a diagnostic item S is set, an IC testing device 30 is controlled to execute a self-diagnostic program 34 about the prescribed diagnostic item S when reach to the prescribed day Y of the week and the prescribed hour T is detected, and the self-diagnosis is thereby conducted automatically.例文帳に追加

曜日Ｙと時刻Ｔと診断項目Ｓから成る起動条件を設定し、所定の曜日Ｙと時刻Ｔに到達したことを検出した場合に、ＩＣ試験装置３０を制御し所定の診断項目Ｓについての自己診断プログラム３４を実行させることにより、自動的に自己診断を行う。 - 特許庁

Each pad 12 is placed in different positions so that a wide bonding region 13 for bonding and a narrow contact region 14 for electric testing make nearly a T-shape in a plane view.例文帳に追加

各パッド１２は平面視でボンディング用の幅広の接合領域１３と電気的テスト用の幅の狭い接触領域１４とを略Ｔ字型をなすよう異なる位置に設ける。 - 特許庁

This tire testing device 10 is equipped with the endless belt 16 having a belt surface 16S abutting on a tire T, and a primary side coil 18 of a linear motor for generating an eddy current and generating a running force on the endless belt 16.例文帳に追加

タイヤ試験装置１０は、タイヤＴに当接するベルト路面１６Ｓを有する無端ベルト１６と、無端ベルト１６に渦電流を発生させて走行力を生じさせるリニアモータの一次側コイル１８と、を備えている。 - 特許庁