test algorithmとは 意味・読み方・使い方

To provide an efficient numerical algorithm for analyzing test sequence redundancy and efficiency in a digital integrated circuit (IC).例文帳に追加

ディジタル集積回路（ＩＣ）における試験シーケンス冗長性と効率を分析する効率的な数値アルゴリズムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor measuring system in which the algorithm of analyzing defect can be easily changed and test efficiency is high.例文帳に追加

不良解析のアルゴリズムを容易に変更可能で、テスト効率の高い半導体測定システムを提供する。 - 特許庁

In the method and the device, defect and error in operations of VSLI simulation and a circuit are discriminated by forming the test and by using the test, and the performance is evaluated by using genetic algorithm.例文帳に追加

テストを生成し、該テストを使用して、ＶＬＳＩシミュレーション及び回路の動作上の欠陥及び誤りを識別し、及び遺伝的アルゴリズムを使用して性能を評価する、方法及び装置。 - 特許庁

A 1chipATPG executing means 110 produces a 1chipATPG test pattern 111 by using the conventional ATPG(automatic test pattern generating method) algorithm based on the new circuit information 102.例文帳に追加

１ｃｈｉｐＡＴＰＧ実行手段１１０は、新回路情報１０２に基づき、従来のＡＴＰＧアルゴリズムを用いて１ｃｈｉｐＡＴＰＧテストパタン１１１を生成する。 - 特許庁

In the hierarchical structure, a data point is a subset of a measurement, a measurement is configuration for a test, a test is a group of measurements that share the same test algorithm, and a procedure is an ordered list of tests to be run and includes a list of measurements and datapoints.例文帳に追加

階層構造内では、データポイントは測定のサブセットであり、測定は試験の設定であり、試験は同じテストアルゴリズムを共有する一群の測定であり、プロシージャは起動されるべき試験の順序リストであって測定およびデータポイントのリストを含む。 - 特許庁

To generate a varied large-scale test command sequence by a method arbitrarily combining plural small-scale unit command sequences, different from a conventional large-scale test command sequence-generating method requiring a complicated automatic command generation process for realizing a varied large-scale test because contents of the test command sequence are poor on account of difficulty of generation algorithm.例文帳に追加

大規模なテスト命令列の生成においては、生成アルゴリズムの難しさからテスト命令列の内容が乏しく、変化のある大規模なテストを実現するためには、複雑な処理を持つ命令自動生成処理を必要としていたが、本発明に示す方式により小規模な単位命令列を任意に複数組み合わせることによって、変化に富んだ大規模なテスト命令列を生成することを可能とする。 - 特許庁

Thereafter, a test family obtained as a result formed by using the VSLI simulation is sent to a prototype circuit on silicon, and adapted to a new environment by using the genetic algorithm again, to develop suitably the test group.例文帳に追加

次いでＶＬＳＩのシミュレーションを用いて生成される結果的に得られるテストファミリを、シリコンにプロトタイプ化された回路に送り、再び遺伝的アルゴリズムを用いて新たな環境に適合させて、テスト集団を適切に発展させることが可能となる。 - 特許庁

The respective coordinates of an output vector VY can be calculated by an N+1 step algorithm and this calculation is performed by a bit test unit to be operated parallel with the ALU.例文帳に追加

出力ベクトルＶＹの各座標をＮ＋１ステップアルゴリズムにより計算することができ、この計算はＡＬＵと並列に作動するビットテストユニットにより行われる。 - 特許庁