test measurement equipmentとは 意味・読み方・使い方

To provide a testing device which can cope with diversified organizations for test / manufacturing steps for terminal equipment and can be efficient from the viewpoint of resources and test time with respect to kinds of communication systems of the terminal equipment, measurement (test) items, and the number of items.例文帳に追加

端末機器の試験・製造工程の多様な編成に対応できる試験装置を提供することであり、さらには端末機器の通信方式の種類、測定（試験）項目、数に対して、資源、試験時間の面において効率的な試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide measurement equipment for optical fiber structure displacement for making it unnecessary to conduct a test in advance each time an optical fiber is installed, and for, even when displacement has non-uniform distortion, accurately measuring the displacement; and a measurement method for the optical fiber structure displacement.例文帳に追加

光ファイバの設置毎に、事前に試験を行う必要がなく、不均一なひずみを有する変位であっても、正確に変位を計測することができる光ファイバ構造物変位計測装置及びその計測方法を提供する。 - 特許庁

To aim at reduction of man-hours by automatic measurement by taking a device capable of conveying a semiconductor chip element after being packaged by an insulating resin into automatic test equipment (ATE) for semiconductor wafer measurement, and to reduce man-hours and to heighten accuracy of electric test evaluation of the semiconductor chip element after being packaged.例文帳に追加

絶縁性樹脂によるパッケージ後の半導体チップ素子を半導体ウェハ測定用の自動試験装置（ＡＴＥ）に搬送できる工夫を取り入れ、自動測定による工数削減を狙うものであり、パッケージ後の半導体チップ素子の電気的試験評価の工数削減及び高精度化を図る。 - 特許庁

(v) Equipment for the test, measurement, or inspection of the items listed in (i) to (iv) above or in (x) of row 15, equipment or tools for the production of such items, or components therefor発音を聞く 例文帳に追加

（五）　（一）から（四）まで若しくは一五の項（十）に掲げるものの試験装置、測定装置、検査装置、製造用の装置若しくは工具又はこれらの部分品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To solve a problem where site attenuation performance is reduced by electromagnetic wave interference in EMI measurement caused by the traveling rail of an overhead traveling crane that is used for raising and lowering heavy under-test equipment, can withstand the weight of the under-test equipment, and has metal structure.例文帳に追加

重量の大きな供試機器を上げ降ろしする上降装置として、供試機器の重量に耐える金属構造の天井走行クレーンが必要であり、この天井走行クレーンの走行レールがＥＭＩ測定時の電磁波障害になる等して、サイトアッテネーション性能が低下する。 - 特許庁

The errors related to the resistance and sense/load resistance of a test conductor for the pulse I-V measurement system 10 determined by performing measurement of an open circuit and a through circuit using a combination of DC equipment and pulse equipment.例文帳に追加

パルスＩ−Ｖ測定系統１０用の試験導体の抵抗及びセンス／負荷抵抗と関係するエラーは、ＤＣ機器とパルス機器との測定の組み合わせを用いて、開回路とスルー回路との測定とを行うことによって決定される。 - 特許庁

(vii) In addition to what is listed in the preceding item, equipment for the design, manufacture, measurement, test, or repair of goods (excluding optical fiber testing equipment and measuring equipment) that fall under any of item (i), item (ii), item (iv), item (v),or item (v)-2, or components or accessories thereof発音を聞く 例文帳に追加

七　前号に掲げるもののほか、第一号、第二号、第四号、第五号若しくは第五号の二のいずれかに該当する貨物の設計用の装置、製造用の装置、測定装置、試験装置若しくは修理用の装置（光ファイバーの試験装置及び測定装置を除く。）又はこれらの部分品若しくは附属品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To realize an inspecting method of a semiconductor wafer test piece, which uses a charged particle beam, and can improve absorption current sensing sensitivity and detecting accuracy by exactly controlling the charged particle beam irradiating the test piece in response to measurement purpose, and to provide its equipment.例文帳に追加

試料に照射する荷電粒子ビームを計測目的に応じて的確に制御することで、吸収電流検出感度と検出精度を向上させることができる荷電粒子ビームを用いた半導体ウェハ試料の検査方法および装置を実現する。 - 特許庁