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test method deviationとは 意味・読み方・使い方
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「test method deviation」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 13件
TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT AND FREQUENCY DEVIATION TRIGGER METHOD例文帳に追加
試験測定装置及び周波数偏位トリガ方法 - 特許庁
TEST CHART, AND DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING STEREOSCOPIC CAMERA FOR POSITIONAL DEVIATION例文帳に追加
テストチャート、ステレオカメラの位置ずれ検査装置および位置ずれ検査方法 - 特許庁
To provide a loading test device and its force control method capable of matching a waveform of a response wave showing a displacement of a test object with a target triangular waveform without deviation.例文帳に追加
試験対象の変位を示す応答波の波形を偏差なく目標の三角波形と一致させることができる加力試験装置及びその加力制御方法を提供する。 - 特許庁
To prevent deviation of a wind test model from a wind tunnel measuring part, to mitigate restriction of a test range, and to reduce a transient phenomenon at the free flight shifting time, concerning a dynamic wind runnel testing device and a method.例文帳に追加
動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁
To provide a method of specifying a test part, capable of easily and accurately recognizing the deviation of image data photographed later from the image data of the test part photographed before without defining a mole or the like as a mark.例文帳に追加
ホクロ等を目印とすることなく、先に撮影した被験部位の画像データに対する、後に撮影した画像データのずれを容易且つ正確に把握できる被験部位の特定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a twist-testing machine, capable of precisely and simply controlling the torque value applied to a test target and capable of easily eliminating deviation between a target twist torque value, capable of being produced in an arbitrary step during a test and an actual measured value in a next step, and to provide a twist-testing method.例文帳に追加
被試験物に加圧されるトルク値を精度よく簡易に管理することができ、試験中の任意ステップにて生じ得る目標ねじりトルク値と実測値との偏差を次のステップにて容易に解消することのできるねじり試験装置およびねじり試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a system and a method for determining an angular deviation of a charged particle beam and for calibrating a charged particle beam system that are based upon multiple measurements of test objects that include sidewalls with high sidewall angle uniformity.例文帳に追加
帯電粒子ビームの角状変位を判断し、高い側壁角度均一性の側壁を含むテストオブジェクトの複数の測定値に基づく帯電粒子ビームシステムを較正する為のシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁
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「test method deviation」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 13件
To provide a device and a method for dynamic wind tunnel testing in order to inhibit the deviation of a wind tunnel testing model from its wind tunnel measuring section, relax the limits to the test range, and minimize transient phenomena in transition to free flight mode.例文帳に追加
動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁
To provide an assembling method of a light source device, which simply reduces deviation, if any, even at test lighting, of an arc position of a lamp and thereby improves light utilization efficiency.例文帳に追加
ランプのアークの位置が試験的点灯でずれた場合にも簡易にずれを低減することができ、光利用効率を高めることができる光源装置の組立方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an image scanner, image position deviation detecting method, and storage medium in which the state of position deviation between a reading position that is ideal in design for a pattern image formed on a test document or the like and a reading position of an actually read pattern image can be detected without performing any complicated image processing in the image reading device that reads image data of documents.例文帳に追加
原稿の画像データを読取る画像読取装置において、テスト原稿などに形成されたパターン画像に対する設計上理想的な読取位置と実際に読取ったパターン画像の読取位置との位置ずれ状態を複雑な画像処理を行うことなく検出することを可能とする画像読取装置、画像の位置ずれ検出方法、及び記憶媒体を提供すること。 - 特許庁
To provide a sheet-like probe and manufacturing method thereof capable of achieving stable connecting conditions to even circuit devices including minute and fine pitched electrodes and preventing positional deviation between an electrode constructing body and a test electrode caused from temperature variation in burn-in tests.例文帳に追加
微小で微細ピッチな電極を有する回路装置にも安定な接続状態が達成され、バーンイン試験において温度変化による電極構造体と被検査電極との位置ずれが確実に防止されるシート状プローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
The manufacturing method of the piezoelectric device includes a test coating stage of applying the adhesive from the needle and a second measurement stage of measuring a coating amount deviation due to difference between the coating amount of the applied adhesive and a reference coating amount, and therefore a proper amount of adhesive can be applied to a proper position.例文帳に追加
ニードルから接着剤を塗布するテスト塗布工程、及び塗布された接着剤の塗布量と基準塗布量との塗布量ずれを測定する第2測定工程を備えているので、適切な位置に接着剤を適正な塗布量を塗布することができる。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a semiconductor device wherein the problems are prevented such as a short circuit, an adhesion failure, and focus deviation etc., due to over-etching of wiring because the areas of overlapping regions for connection are randomly different, in a method for forming fine wiring which is a test pattern and wide leads connected to it on a semiconductor substrate by double exposure using two masks.例文帳に追加
テストパターンである微細配線とそれに繋がる幅広の引き出し配線とを2枚のマスクを用いた2重露光により半導体基板上に形成する方法において、繋ぎ合わせるオーバーラップ領域の面積がランダムに異なっていたため発生していた、配線のオーバーエッチングにより短絡、密着性不良、フォーカスずれ等の諸問題を発生させない半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
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