「積層欠陥」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

酸化誘起積層欠陥を実質的に有さない空孔優勢コアを有する低欠陥密度シリコン例文帳に追加

LOW DEFECT DENSITY SILICON HAVING VACANCY-DOMINATED CORE SUBSTANTIALLY FREE OF OXIDATION-INDUCED STACKING FAULT - 特許庁

転位や積層欠陥などの結晶欠陥を容易かつ精度よく検出する。例文帳に追加

To detect crystal defects such as dislocation, stacking fault, and the like, easily and precisely. - 特許庁

半導体素子において、エピタキシャル成長中に発生する積層欠陥を抑制し、積層欠陥に起因するオン抵抗の増加を抑制する。例文帳に追加

To suppress an increase in on-resistance resulting from stacking fault by inhibiting stacking fault generated during epitaxial growth in a semiconductor device. - 特許庁

その顕微鏡像に示された像のコントラストは、積層欠陥のせいである。例文帳に追加

The image contrast shown in the micrograph is ascribed to a stacking fault.  - 科学技術論文動詞集

印刷欠陥検知が容易な印字部を有する積層フィルム例文帳に追加

LAMINATE FILM HAVING PRINT PART FACILITATING DETECTION OF PRINT DEFECT - 特許庁

マスク５によって第２層４の積層欠陥１１が遮断される。例文帳に追加

The laminating defects 11 in the second layer 4 are intercepted by the mask 5. - 特許庁

積層体の欠陥検出装置及び燃料電池の検査装置例文帳に追加

DEFECT DETECTION DEVICE FOR LAMINATED BODY AND INSPECTING DEVICE FOR FUEL CELL - 特許庁

積層体の内部に存在する欠陥を、金属層を積層した後の積層体において、その外部から欠陥の形態及び位置の情報を精度良く把握するという、欠陥の検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect detection method capable of acquiring accurately information of the form and the position of a defect from the outside in a layered product after laminating a metal layer, concerning the defect existing inside the layered product. - 特許庁

積層型セラミック素子の欠陥評価法及び積層型セラミック電子部品の製法例文帳に追加

DEFECT EVALUATION METHOD FOR LAMINATED CERAMIC ELEMENT, AND PRODUCTION METHOD FOR LAMINATED CERAMIC ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

積層膜構成中の欠陥検査において、フォーカス位置を正確に制御して、各膜上、又は膜中の欠陥を的確に捉える。例文帳に追加

To accurately grasp a flaw on each film or in each film by accurately controlling a focus position in the inspection of the flaw in a laminated film constitution. - 特許庁

この溝１２を酸化珪素膜５で埋め込むことによって、積層欠陥の成長を停止させる欠陥停止領域１０を形成する。例文帳に追加

By filling up the groove 12 with a silicon oxide film 5, a fault stop region 10 which stops the growth of stacking faults is formed. - 特許庁

緩和ＳｉＧｅ合金層において、積層欠陥およびマイクロツイン等の平面欠陥の形成を抑えるための方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for suppressing the formation of flat surface defects, such as stacking faults and microtwins in a relaxed SiGe alloy layer. - 特許庁

微小な欠陥を検出することを可能とし、欠陥の少ない積層体の製造方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a laminate with less defects, which enables detection of micro defects. - 特許庁

積層構造製品が完成する前に、塗膜の欠陥を発見することができるようにして、欠陥のある積層構造製品の発見を容易にした積層構造製品の製造装置を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing device for a laminated structure product which can easily discover a defective coating film prior to the completion of the laminated structure product, while facilitating the discovery of the defective laminated structured product. - 特許庁

積層体の材質に左右されることなく、積層体の欠陥を非破壊・非接触で検出しることができ、例えば固体酸化物形燃料電池の劣化診断や、製造時の工程検査などに利用することができる積層体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a laminate, capable of detecting a defect of the laminate in a nondestructive/noncontact manner, regardless of the material of the laminate, and utilizable, for example, for deterioration diagnosis of for a solid oxide type fuel cell or process inspection at manufacturing. - 特許庁

この章では、われわれは自分達の考察を積層欠陥と転位に限定しよう。例文帳に追加

In this chapter, we will confine our considerations to stacking faults and dislocations.  - 科学技術論文動詞集

ある超格子反射が働いて(起きて)いるとき、積層欠陥に特有の縞状のコントラストが得られる。例文帳に追加

When certain superlattice reflections are operating, the fringe-type contrast characteristic of a stacking fault is obtained.  - 科学技術論文動詞集

積層欠陥が低減された３Ｃ−ＳｉＣ単結晶からなる基板を再現性良く製造する。例文帳に追加

To manufacture a 3C-SiC single crystal reduced in generation of stacking fault with good reproducibility. - 特許庁

結晶欠陥が少なく良好な特性を持つ強誘電体膜積層体を提供する。例文帳に追加

To provide a ferroelectric film lamination having few crystal defects and with excellent characteristics. - 特許庁

積層欠陥のない高品質な単結晶ＺｎＯエピタキシャル薄膜を作成すること。例文帳に追加

To produce a high quality epitaxial thin film of a single crystal zinc oxide free from stacking faults. - 特許庁

結晶欠陥が少なく良好な特性を持つ強誘電体膜積層体を提供する。例文帳に追加

To provide a ferroelectric film laminated body which is few in crystal-defect and has good characteristics. - 特許庁

構造欠陥の発生を抑え得る積層セラミック電子部品を製造し得る方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method which can manufacture a multilayer ceramic electronic component capable of restraining the generation of structural defects. - 特許庁

積層体の端面に沿って上下向きのバリなどの欠陥部位を精度よく求める。例文帳に追加

To enable precise identification of a defective part such as a burr facing upward or downward along an end face of a laminated body. - 特許庁

高い熱伝導率を有し、積層欠陥が低下した炭化珪素膜を提供する。例文帳に追加

To provide a silicon carbide film having high thermal conductivity and reduced stacking faults. - 特許庁

光透過性単層体又は積層体に存在する欠陥を測定する装置例文帳に追加

DEVICE FOR MEASURING DEFECT EXISTING IN LIGHT TRANSMITTING SINGLE LAYER BODY OR LAMINATE - 特許庁

高い熱伝導率を有し、積層欠陥が低下した炭化珪素膜を提供すること。例文帳に追加

To provide a silicon carbide film which has high thermal conductivity and reduced stacking faults. - 特許庁

基板真上の突起欠陥と多層膜中央の突起欠陥であっても、修正用多層膜を積層することでこれらの位相欠陥を修正することが可能である。例文帳に追加

Phase defect can be corrected by laminating a multilayer film for correction, even for a protrusion defect directly above a substrate and a protrusion defect in the center of the multilayer film. - 特許庁

径方向全域にわたりＯＳＦ（酸化誘起積層欠陥）およびｇｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥のない無欠陥領域の単結晶を歩留り良く安定して育成することができるシリコン単結晶の育成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for growing a silicon single crystal, which can grow a single crystal of a non-faulty region where there is no OSF (oxidation-induced stacking faults) and grown-in faults over the whole diameter direction region, in a high yield and stably. - 特許庁

結晶中心部が無欠陥領域、酸化誘起積層欠陥発生領域又は赤外散乱欠陥発生領域となる条件で結晶育成を行う。例文帳に追加

Crystal growth is carried out under such a condition that the center part of the crystal becomes a region free from defects, a region where stacking faults caused by oxidation are formed or a region where infrared scattering defects are formed. - 特許庁

結晶中心部が無欠陥領域、酸化誘起積層欠陥発生領域又は赤外散乱欠陥発生領域となる条件で結晶育成を行う。例文帳に追加

Crystal growth is conducted under a condition that the central part of the crystal becomes a defect-free zone, an oxidation inducement stacking defect-formed zone or an infrared scattering defect-formed zone. - 特許庁

窒素ドープされた４Ｈ型SiCバルク単結晶基板に含まれる６Ｈ型積層欠陥を検出できる基板の欠陥検査方法、及びこれを用いた基板の欠陥検査システム、並びに欠陥情報付きのSiCバルク単結晶基板を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate defect checkup method permitting detection of 6H type lamination defects contained in nitrogen-doped 4H type SiC bulk monocrystalline substrates, a substrate defect checkup system using this method, and an SiC bulk monocrystalline substrate with defect information. - 特許庁

位相欠陥部上に２種類の材料からなる多層膜を積層することにより、該位相欠陥部と高反射部の位相差を実用上０（ゼロ）とし、該位相欠陥部の反射率と高反射部の反射率を実用上等しくするように行う反射型フォトマスクの位相欠陥修正方法である。例文帳に追加

In the phase defect correction method of reflection type mask, phase difference between a phase defect part and a high reflection part is practically brought to 0 (zero) by laminating a multilayer film composed of two kinds of material on the phase defect part, and the reflectance of the phase defect part is substantially equalized to the reflectance of the high reflection part. - 特許庁

炭化珪素半導体装置において、炭化珪素基板上に積層したエピタキシャル層中で積層欠陥が成長するのを防ぐこと。例文帳に追加

To prevent the growth of stacking faults in an epitaxial layer stacked on a silicon carbide substrate in a silicon carbide semiconductor device. - 特許庁

欠陥数が少なくて、バリア性が高い有機無機積層型の積層体やバリア性フィルム基板を簡便な方法で提供する。例文帳に追加

To provide an organic/inorganic lamination type-laminate and a barrier film substrate with few defects and excellent in barrier property in a convenient method. - 特許庁

熱欠陥発生がなくかつ密着性に優れた液晶表示装置用積層配線および積層電極並びにそれらの形成方法例文帳に追加

LAMINATED WIRING AND LAMINATED ELECTRODE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE EXCELLENT IN ADHESION WITHOUT CAUSING THERMAL DEFECT, AND METHOD FOR FORMING THEM - 特許庁

電極層の転写性、支持シートの剥離性及び積層の精度を向上して、欠陥のない積層部品を製造する。例文帳に追加

To manufacture a defect-free laminated part by improving electrode transfer, support sheet peeling, and lamination accuracy. - 特許庁

積層セラミックコンデンサのような積層セラミック電子部品において、内部電極の厚みが薄くされても、構造欠陥を生じにくくする。例文帳に追加

To prevent structural defects from occurring easily, even if reducing the thickness of an internal electrode in a multilayer ceramic electronic component, such as a multilayer ceramic capacitor. - 特許庁

マーキング装置８は、警報信号ＡＳが出力されると、積層構造製品に欠陥があることを示す表示をフィルム積層体に表示する。例文帳に追加

A marking device 8, when the alarm signal AS is outputted, displays a display indicating the presence of the defective laminated structure product on the film laminate. - 特許庁

積層セラミックコンデンサの製造時に内部欠陥が生じにくい内部電極ペーストと、それを用いた積層セラミックコンデンサを得る。例文帳に追加

To obtain an internal electrode paste by which internal defects are hardly produced at the time of manufacturing a multilayer ceramic capacitor and a multilayer ceramic capacitor using it. - 特許庁

そして、測定したＱ値が２０００より小さい積層セラミックコンデンサを構造欠陥の有る積層セラミックコンデンサとして選別する。例文帳に追加

A laminated ceramic capacitor in which a measured Q-value is less than 2000 is identified as a laminated ceramic capacitor having a structural defect. - 特許庁

積層工程におけるシート屑の発生を抑制し、内部欠陥を防止することができる積層体の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a laminated body, in which the generation of sheet scraps can be suppressed in a lamination process and the generation of inner defects can be prevented. - 特許庁

加熱することなく修正液の堆積層を欠陥部に積層することが可能なパターン修正方法およびパターン修正装置を提供する。例文帳に追加

To provide a pattern correction method and a pattern correction device capable of laminating the deposition layer of a correction liquid on a defective part without heating. - 特許庁

新たな部品を光路中に挿入することなく、積層フィルムを構成する位相差層の光学性能のばらつきを考慮した欠陥検出を行うことが可能な積層フィルムの欠陥検出装置を提供する。例文帳に追加

To provide a layered film defect detection device capable of performing defect detection considering irregularities of optical performance of a phase difference layer constituting the layered film without requiring insertion of an additional component into an optical path. - 特許庁

電流通電により積層欠陥面積が拡大し、順方向電圧が増加した炭化珪素バイポーラ型半導体装置を３５０℃以上の温度で加熱し、積層欠陥回復させる。例文帳に追加

The stacking fault area is enlarged by current energization and the silicon carbide bipolar semiconductor device of the increased forward voltage is heated at a temperature of 350°C or more to recover stacking faults. - 特許庁

構造欠陥のない積層セラミックコンデンサおよび構造欠陥の有る積層セラミックコンデンサについて、１ｋＨｚ以下の測定周波数たとえば１ｋＨｚの測定周波数でＱ値を測定する。例文帳に追加

A Q-value is measured at a measurement frequency of 1 kHz or lower, for example 1 kHz, for laminated ceramic capacitors with no structural defect and those with a structural defect. - 特許庁